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詳細介紹
MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢直觀的菜單控制及與上下文相關的聯(lián)機幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數(shù)設置，無需專業(yè)技能，也可在短的時間內完成困難測量任務。
 | 主要特點： 1.所有金屬基材上的非破壞性測量 |
SIDSP®技術
SIDSP®是由ElektroPhysik開發(fā)的涂層厚度傳感器技術。有了這項新技術，ElektroPhysik創(chuàng)新的涂層厚度測量的另一個新*。 SIDSP®代表傳感器集成的數(shù)字信號處理 - 在其中信號*處理成數(shù)字形式，在傳感器內部的技術。 與常規(guī)技術不同，SIDSP®傳感器和控制內部的傳感器的傳感器頭的激勵信號。返回信號直接轉換成數(shù)字，并在32位精度處理，給你完整的涂層厚度值。對于該技術中，均采用了高度復雜的數(shù)字信號處理方法。這使迄今實現(xiàn)了信號的質量和精度的模擬信號處理。
| 探頭技術參數(shù): 1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準 2.零點校準，并且校準值和預期的涂層厚度接近 3.使用精密支架，不適用HD探頭 4.如果選擇“快速"，測量速度主要取決于操作 5.根據(jù) DIN 55350第13部分 6.多點校準值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù). 7.包括涂層 |  |
校準：為滿足應用程序的要求，MiniTest 7400個傳感器可校準多達5點(包括零位)。由于預定義的校準和操作方法，儀器支持"ISO 19840；SSPC，"瑞典"、"澳大利亞"、"PSPC"等應用規(guī)范并可進行粗糙表面的測量。
MiniTest 7400系列提供了許多校準方法，以滿足各種應用程序、程序和工業(yè)標準的個性化需求。如果批處理已建立，您可以根據(jù)每批選擇一個合適的校準方法。如果您在測試模式下，在您已經(jīng)創(chuàng)建了批之后，或在稍后的時間，可以立即進行校準。打給計量模式的校準功能，按下功能鍵。校準方法只要當前活動的批處理中沒有讀數(shù)存儲時就可以更改
高精度測量支架
對于小物件和小幾何的讀數(shù)，推薦使用外部傳感器與高精度支架。
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