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篤摯儀器（上海）有限公司 |
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| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2024-11-19 16:20:07瀏覽次數(shù)：1732
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
EPK測(cè)厚儀（Elektrophysik）探頭現(xiàn)貨供應(yīng)
涂層厚度測(cè)量的成功主要取決于正確選擇探頭。 ElektroPhysik提供渦流和磁感應(yīng)探頭，涵蓋了所有應(yīng)用。以下是*受歡迎的探頭，如果您沒有找到所需的探頭，請(qǐng)告訴我們您的應(yīng)用詳細(xì)信息，我們將為您提供幫助。MiniTest 2500/4500 系列涂層測(cè)厚儀提供多種測(cè)量探頭，使其可以處理標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用以及更復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)。
涂鍍層厚度的測(cè)量方法主要有:磁吸力原理，電磁測(cè)量法 ,渦流測(cè)量法,射線熒光法66射線反向散射法,楔切法, 光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法等等。這些方法中前5種方法為無(wú)損測(cè)業(yè)后五種為有損檢測(cè)。
磁感應(yīng)測(cè)量原理采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小, .來(lái)表示其夏層厚度。夏層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁要層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)碰率之差足多大(如鋼.上鍍鎳)。當(dāng)軟芯， 上繞著線圈測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻,鎖相,溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)。利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用*設(shè)計(jì)的集成電路引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)-一個(gè)數(shù)量級(jí)]。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)準(zhǔn)確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、 橡膠夏層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油行業(yè)的各種防腐涂層。
?F-型探頭根據(jù)磁感應(yīng)原理工作，可以測(cè)量涂覆在鋼鐵（包括鋼合金和淬硬磁鋼）上的涂料、搪瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、鋅等非磁性涂層。
?N-型探頭根據(jù)渦流原理工作，并測(cè)量應(yīng)用于所有有色金屬(如鋁、銅、鋅壓鑄件、黃銅等，包括奧氏體-尼龍鋼)上的絕緣涂料，如涂料、陽(yáng)極氧化、陶瓷等。
?FN-型探頭結(jié)合了兩種原理，并識(shí)別涂層下面的基材，從而自動(dòng)切換到正確的測(cè)量原理，以測(cè)量鋼材或有色金屬基
MiniTest 2500/4500
探頭選型（EPK測(cè)厚儀（Elektrophysik）探頭現(xiàn)貨供應(yīng)）
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| 探頭型號(hào) | FN 1.6 | FN 1.6/90 | F 05 | F 3 |
| 應(yīng)用: | 鋼鐵上的非磁性涂層和 有色金屬上的絕緣涂層。 用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的全能型。 同時(shí)供應(yīng)F 1.6版本僅用于在 磁性基材上測(cè)量或 N 1.6 版本僅用于在有色金 屬上測(cè)量。 | 鋼鐵上的非磁性涂層和 有色金屬上的絕緣涂層。 特別適合測(cè)量管道或難以 進(jìn)入的物體。 同時(shí)供應(yīng)僅用于在磁性基 材上測(cè)量的F 1.6/90版本或 僅用于在有色金屬上測(cè)量 的版本 N 1.6/90 。 | 極薄的有色金屬，氧化物或 油漆涂層在小鋼鐵工件上。 z高精度用于薄涂層的。 | 鋼鐵上的非磁性涂層， 厚涂層和搪瓷涂層。 涂層厚度測(cè)量的經(jīng)典之 作。 |
| 技術(shù)數(shù)據(jù) | ||||
| 測(cè)量范圍 : | 0…1600 μm | 0…1600 m | 0…500μm | 0…3000μm |
| 低端分辨率: | 0.1 μm | 0.1 μm | 0.1 μm | 0.2 μm |
| 保證公差 | ± (1%+1 μm) * | ± (1%+1 μm) * | ± (1%+0.7 μm) * | ± (1%+1 μm) * |
| (讀數(shù)的): | ||||
| *小 曲率半徑 (凸/凹): | 1.5 mm凸面/ 10 mm凹面 | 平面和凸面/ 6 mm凹面 | 1.5mm凸面/ 10 mm凹面 | 1.5mm凸面/ 10 mm凹面 |
| *小 測(cè)量區(qū)域 : | ? 5 mm | ? 5 mm | ? 3 mm | ? 5 mm |
| *小 基體厚度 : | F 0.5 mm/N 50 μm | F 0.5 mm/N 50 μm | 0.1 mm | 0.5 mm |
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| 探頭型號(hào) | N 02 | N 08.Cr | F 10 | F 20 |
| 應(yīng)用: | 非常薄涂層的*解決方案。 非鐵金屬上的絕緣層如漆 膜，搪瓷或陽(yáng)極氧化層， 測(cè)量分辨率高 (0.1 μm) 并且僅25g的限定跟蹤 力 | 在銅基板上測(cè)量*大厚度 為 80μm的鍍鉻層的特殊版 本，*小基體厚度100μm。 | 在罐體，管道和集裝箱 建筑上類似塑料的厚涂 層。 | 管道構(gòu)造中的厚塑料，橡 膠或混凝土層以及耐腐蝕 層 |
| 技術(shù)數(shù)據(jù) | ||||
| 測(cè)量范圍 : | 0…200μm | 0…80μm | 0…10000μm | 0…20000μm |
| 低端分辨率: | 0.1 μm | 0.1 μm | 5 μm | 10 μm |
保證公差 (讀數(shù)的): | ± (1%+0.5μm) * | ± (1%+ 1μm/0.04 mils) * | ± (1%+10μm/0.4 mils) * | ± (1%+20 μm) * |
| *小 曲率半徑 (凸/凹): | 1mm凸面 / 5mm凹面 | 2,5 mm 凸面/ 10 mm 凹面 | 5 mm凸面/ 16 mm凹面 | 10 mm凸面/ 30 mm凹面 |
| *小 測(cè)量區(qū)域 : | ? 2 mm | ? 5 mm | ? 20mm | ? 40 mm |
| *小 基體厚度 : | 50 μm | 100μm | 1 mm | 2 mm |
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| 探頭型號(hào) | F 50 | N 10 | N 20 | N 100 | F 2 HT |
| 應(yīng)用: | 非常厚的耐腐蝕 層和防鼓層 | 用于測(cè)量有色金屬上 的橡膠，塑料，玻璃 等絕緣層。 | 有色金屬上的絕緣涂 層，例如 橡膠、塑料 、玻璃 | 有色金屬上的厚絕 緣層和復(fù)合材料。 | 特殊的高溫探頭允許 在高達(dá)250°C 350° C 表面溫度的熱表面上 進(jìn)行涂層厚度測(cè)量。 |
| 測(cè)量范圍 : | 0…50000μm | 0…10000μm | 0…20000μm | 0…100000μm | 0…2000μm |
| 低端分辨率: | 10μm | 10μm | 10μm | 100μm | 0.2μm |
保證公差 (讀數(shù)的): | ± (1%+25μm) * | ± (1%+50μm) * | ± (1%+50μm) * | ± (1%+0.3μm) * | ± (1 %+1μm) * |
| *小 曲率半徑 (凸/凹): | 50mm凸面/ 200mm凹面 | 25mm凸面/ 100mm凹面 | 25mm凸面/ 100mm凹面 | 100mm凸面/ 平面 | 1.5mm 凸面/ 10mm 凹面 |
| *小 測(cè)量區(qū)域 : | ? 300mm | ? 50mm | ? 70mm | ? 200 mm | ? 5mm |
| *小 基體厚度 : | 2mm | 50μm | 50μm | 50μm | 0.5mm |
篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀；
==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
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