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產(chǎn)品簡介
德國庫倫測厚儀Couloscope CMS2
COULOSCOPE CMS2電解測厚儀過電解去除層來測量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。
COULOSCOPE CMS2電解測厚儀過電解去除層來測量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。
詳細(xì)介紹
1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 （庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。
2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 地測量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
3、用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對(duì)多層鎳的測量變得越來越重要了，雙層鎳的測量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
德國庫倫測厚儀Couloscope CMS2
COULOSCOPE CMS STEP介紹：
儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
COULOSCOPE CMS 測量原理：
測量原理 這個(gè)系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面 積保持不變，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。
測量印刷線路板上剩余純錫的厚度
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度：
d:
鍍層厚度 [µm]
eÄ:
電化學(xué)當(dāng)量 [g/As]
I:
電解電流 [A] γ: 電解效率
t: 電解時(shí)間 [s] A: 電解面積 [cm2] ρ: 電解鍍層材料密度 [g/cm3]
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對(duì)不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制， 用一 個(gè)泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電 解液*利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。
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