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            丹東百特儀器有限公司

            當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀

            BUSINESS

            當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀

            [供應(yīng)]BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀

            貨物所在地:遼寧丹東市

            產(chǎn)地:中國(guó)丹東

            更新時(shí)間:2025-02-24 10:26:17

            有效期:2025年2月24日 -- 2025年5月24日

            已獲點(diǎn)擊:125

            聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)

            BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。

            產(chǎn)品介紹

            BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù),可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。


            BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀


            基本性能指標(biāo)

            粒徑檢測(cè)(動(dòng)態(tài)光散射法)

             粒徑范圍 0.3 nm – 15 μm
             最小樣品量  3 μL
             檢測(cè)角度  173 °+90 ° + 12°
             分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

            沉降法粒度測(cè)試

             檢測(cè)方法  沉降法
             粒徑范圍  1μm-50μm
             檢測(cè)角度
            樣品量  1-3ml

            Zate電位測(cè)試

             檢測(cè)角度  12°
             Zeta范圍  無(wú)實(shí)際限制
            電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
             電導(dǎo)率范圍  0 - 260 mS/cm
             Zeta測(cè)試粒徑范圍  2 nm – >120 μm  

            分子量測(cè)試

             分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

            微流變測(cè)試

             測(cè)試能力  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

            趨勢(shì)測(cè)試

             模式  時(shí)間和溫度

            濃度檢測(cè)

             檢測(cè)方法 LEDLS
             測(cè)試能力  體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度

            折光率測(cè)試

            檢測(cè)方法 楔形池樣品折射(無(wú)需示蹤粒子)
             檢測(cè)角度  0°
             RI范圍  1.2-1.6
             精度  優(yōu)于0.1%
            最小樣品量  380 μL

            系統(tǒng)參數(shù)

            溫控范圍 -15°C - 120°C
             冷凝控制  干燥空氣或者氮?dú)?/span>
             相關(guān)器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
             電泳遷移率范圍  快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍
             檢測(cè)器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
             光強(qiáng)控制  0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)    









            檢測(cè)參數(shù)


            動(dòng)態(tài)光散射

            ●流體力學(xué)尺寸 Dh

            ●分布系數(shù) PD.I

            ●擴(kuò)散系數(shù) D

            ●顆粒間相互作用力因子 kd

            ●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

            ●計(jì)算分子量

            ●溶液粘度和折射率

            ●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J


            電泳光散射

            ●Zeta電位及其分布

            ●帶電顆粒的電泳遷移率


            透射

            ●透射濁度

            ● 顆粒物濃度

            ●液體折射率

            ●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試


            趨勢(shì)測(cè)試

            ● Zeta電位和粒徑的pH滴定

            ● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試


            靜態(tài)光散射

            ● 絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz

            ● 分子量分布

            ● 第二維利系數(shù)A2



            選配件

            動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

            BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào),并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào),得到高分辨率且不依賴(lài)于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

            BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀


            BAT-1自動(dòng)滴定儀

            樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴(lài)性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試,具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴(lài)于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

            BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀            


            BeScan穩(wěn)定性分析儀

            BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

            BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位儀



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