當(dāng)只有少量樣品材料可用時(shí)，零背景支架是理想的解決方案。我們已經(jīng)使用了這些小到0.7毫克的粉末，效果非常好。插入物由以特定方向生長(zhǎng)的硅片制成，這樣撞擊表面的x射線就不會(huì)衍射到探測(cè)器中。這使我們能夠分析這些小體積的樣品，而不會(huì)使樣品支架材料本身的特征復(fù)雜化。就好像粉末漂浮在自由的空間里。

當(dāng)只有少量樣品材料可用時(shí)，零背景支架是理想的解決方案。我們已經(jīng)使用了這些小到0.7毫克的粉末，效果非常好。

 

插入物由以特定方向生長(zhǎng)的硅片制成，這樣撞擊表面的x射線就不會(huì)衍射到探測(cè)器中。這使我們能夠分析這些小體積的樣品，而不會(huì)使樣品支架材料本身的特征復(fù)雜化。就好像粉末漂浮在自由的空間里。

 

所有板材均在KSA內(nèi)部切割。我們受歡迎的尺寸有25、30和32毫米圓形。然而，我們可以根據(jù)需要切割直徑高達(dá)75毫米的板材，甚至矩形或其他奇怪的形狀。

 

選擇不銹鋼主體材料有一些優(yōu)點(diǎn)，但值得注意的是，當(dāng)使用較大孔徑的狹縫時(shí)，可以減少20度以下角度的散射2。大多數(shù)儀器將至少部分樣品支架主體以低角度暴露于入射光束，這使得較大的零背景板或不銹鋼主體是有益的。

 

對(duì)于稍大的樣品體積或受益于固定輻照表面積的應(yīng)用，考慮可以研磨到表面的可選井。我們已經(jīng)滿足了深度從0.1到1毫米和直徑從5到20毫米的要求，但最常見的是10x0.5毫米的井。