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產(chǎn)品簡介
帕克PARK XE7高性價比原子力顯微鏡的納米領(lǐng)域研究利器。*的三軸分離設(shè)計，既保證了XYZ三個方向無耦合效應(yīng)，從原理上消除了平面扭曲誤差；同時獨(dú)立的Z軸掃描器，實(shí)現(xiàn)了真正的非接觸式掃描，極大地擴(kuò)展了樣品適用范圍。自上而下的直視光路，方便用戶對探針和樣品的觀察，專門設(shè)計的探針安裝方式，簡化了光路調(diào)整過程，降低了操作難度。
詳細(xì)介紹
帕克PARK XE7高性價比原子力顯微鏡
帕克PARK XE7高性價比原子力顯微鏡的納米領(lǐng)域研究利器。*的三軸分離設(shè)計，既保證了XYZ三個方向無耦合效應(yīng)，從原理上消除了平面扭曲誤差；同時獨(dú)立的Z軸掃描器，實(shí)現(xiàn)了真正的非接觸式掃描，極大地擴(kuò)展了樣品適用范圍。自上而下的直視光路，方便用戶對探針和樣品的觀察，專門設(shè)計的探針安裝方式，簡化了光路調(diào)整過程，降低了操作難度。
技術(shù)參數(shù)：
掃描器
XY掃描器
柔性制導(dǎo)閉環(huán)控制單模塊掃描器
掃描范圍10μm*10μm（可選50μm*50μm ，100μm*100μm）
平面偏移度:<2nm（40μm*40μm掃描）
Z掃描器
柔性制導(dǎo)強(qiáng)力掃描器
掃描范圍12μm（可選25μm）
共振頻率：>5kHz
表面成像噪聲：0.03nm
樣品臺
樣品尺寸： 100mm*100mm*20mm
樣品重量：大500g
樣品臺移動范圍：13mm*13mm
帕克PARK XE7高性價比原子力顯微鏡主要特點(diǎn)：
一、精確的XY方向掃描，*消除了交叉耦合誤差
●使用獨(dú)立的閉環(huán)XY平板式掃描器和Z軸掃描器
●平板式的掃描掃描器，殘留彎曲誤差極小
●整個掃描范圍內(nèi)的水平線性誤差小于2nm
●精確的高度測量
二、Non-Contact™(真正非接觸) 模式能夠延長針尖壽命，提供高分辨率及保護(hù)樣品
●Z伺服速度是壓電陶瓷管的10倍
●非接觸模式可降低針尖磨損、延長使用壽命
●成像分辨率優(yōu)于同類原子顯微鏡
●增強(qiáng)樣品兼容性，提高掃描精度
三、豐富的功能拓展
●支持多種SPM模式
●支持多種選配測量模式
●支持各種可選配件，擴(kuò)展性能*
四、為便利的使用設(shè)計
●開放式樣品空間，提高樣品及針尖更換效率
●預(yù)對準(zhǔn)針尖安裝和同軸直視光路直觀地實(shí)現(xiàn)激光對準(zhǔn)
●燕尾鎖方便掃描頭拆卸