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            GB/T 2423.24-2013

            閱讀:982        發(fā)布時(shí)間:2018-11-30

                                                                       GB/T 2423.24-2013

            本頁面標(biāo)準(zhǔn)信息均來源于網(wǎng)絡(luò)收集,或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供,只作為參考使用,為確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間,如需GB/T 2423.24-2013標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GB/T 2423.24-2013具體測試方法,歡迎與我們技術(shù)人員或給我們留言,我們將為您相關(guān)的技術(shù)支持。

             

            GB/T 2423.24-2013是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射》的測試方法。

            GB/T 2423.24-2013是GB/T 2423的第24部分,GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。

            本部分按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草。

            本部分代替GB/T 2423.24 1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射》和GB/T 2424.14-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》。本部分整合了GB/T 2423.24 -1990及GB/T 2424.14 1995的相關(guān)內(nèi)容,與GB/T 2423.24

            1995和GB/T 2424.14 --1995相比,主要技術(shù)變化和編輯性修改如下:

            增加了目次、前言;

            ——增加了第2章“規(guī)范性引用文件”、第3章“術(shù)語和定義”、第10章“試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息”;

            ——刪除了GB/T 2423.24 1995中4.6對試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的推薦值;

            ——刪除了GB/T 2424.14 1995第9章“危險(xiǎn)和人身安全”;

            ——刪除了GB/T 2424.14 1995的附錄A“輻射強(qiáng)度調(diào)整的計(jì)算”、附錄B“經(jīng)基底的熱傳輸”;

            ——GB/T 2424.14 1995第8章“試驗(yàn)結(jié)果的解釋”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄A,并在內(nèi)容上做了修改;

            ——GB/T 2424.14 1990第5章“輻射光源”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄B,并在內(nèi)容上做了修改;

            ——GB/T 2424.14-1990第6章“測量儀表”轉(zhuǎn)化為本部分的附錄C,并在內(nèi)容上做了修改;

            ——溫度偏差的單位用“K”取代“℃”;

            ——光譜能量分布由CIE 20推薦值改為CIE 85推薦值;

            ——在附錄C中,規(guī)定了采用IS0 4892描述的設(shè)備進(jìn)行本部分規(guī)定的試驗(yàn)。

            本部分采用翻譯法等同采用IEC 60068-2-5:2010《環(huán)境試驗(yàn)第2-5部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則》。

            與本部分中規(guī)范性引用的文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下:

            ——GB/T 2421.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南(IEC 60068-1:1988,IDT)

            ——GB/T 2423.1 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC 60068-2-1: 2007 ,IDT)

            ——GB/T 2423.2 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC 60068-2-2: 2007 ,IDT)

            ——GB/T 2423.32006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)(IEC 60068-2-78: 200I,IDT)

            本部分與IEC 60068-2-0:2010相比,主要做了下列編輯性修改:

            一一本部分的名稱改為:“環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗(yàn)導(dǎo)則”;

            -IEC原文第2章中的引用文件“CIE 85:1985”年份有誤,應(yīng)為“CIE 85:1989”,本部分予以更正,見腳注1);

            ——增加了腳注2);

            ——更正了表1中紅外線輻照度數(shù)值,由“186 W/1112'’改為“411.62 W/rr12'’,增加了表1的注和腳注6;

            ——正文中三處升降溫速率由原文的“1 K/min的速率”改為“小于1 K/min的速率”,見條文腳注3)、4)、5);

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