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篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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更新時(shí)間：2024-08-31 09:35:25瀏覽次數(shù)：2915
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德國(guó)進(jìn)口電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2
1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 （庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 地測(cè)量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
3、用來(lái)測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來(lái)越重要了，雙層鎳的測(cè)量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
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COULOSCOPE CMS STEP介紹：
儀器高的電壓分辨率可以測(cè)量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
典型應(yīng)用：
同時(shí)測(cè)量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學(xué)電位?！?br />幾乎可以測(cè)量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層系統(tǒng)。
在工業(yè)和特殊領(lǐng)域內(nèi)的具體應(yīng)用范圍：
電鍍工業(yè)中的產(chǎn)品監(jiān)控；由于新穎電極簡(jiǎn)便的操作，該儀器*地適用于電鍍車(chē)間繁雜的工作環(huán)境！ 成品的入庫(kù)檢驗(yàn)，例如汽車(chē)工業(yè)中鉻合金輪轂澆筑件（帶雙層鎳）。
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設(shè)置和儲(chǔ)存：50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組；3 000個(gè)數(shù)據(jù)
統(tǒng)計(jì)：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測(cè)量次數(shù)、Cp、Cpk
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過(guò)電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D mm
測(cè)量原理：
