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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2024-09-01 11:02:21瀏覽次數(shù)：2938
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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雷尼紹坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)探頭TP200
TP200系統(tǒng)組件包括：
REVO®五軸測(cè)量多類型傳感器系統(tǒng)雷尼紹的測(cè)頭測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)過精心設(shè)計(jì)， 選用雷尼紹的全系列測(cè)針時(shí)性能**。 下列測(cè)頭全部使用M2螺紋測(cè)針， 但配備適當(dāng)?shù)霓D(zhuǎn)接頭也可使用其他螺紋規(guī)格的測(cè)針。
TP2
• TP20
• TP200
TP200探頭
TP200探頭結(jié)合了應(yīng)變片技術(shù)，提供了出色的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維形式測(cè)量，即使是長(zhǎng)樣式。探頭內(nèi)的固態(tài)ASIC（應(yīng)用集成電路）電子設(shè)備確保數(shù)百萬觸發(fā)點(diǎn)的可靠運(yùn)行。觸針模塊通過高重復(fù)性磁運(yùn)動(dòng)接頭安裝在探針上，提供快速更換觸針的能力和探針超程保護(hù)。有三個(gè)觸針模塊可提供兩種不同的超程力。標(biāo)準(zhǔn)力（SF）模塊適用于大多數(shù)應(yīng)用。低力（LF）模塊建議用于小型精密球造型或精密材料。擴(kuò)展超程（EO）模塊與標(biāo)準(zhǔn)模塊具有相同的超程力，但在Z軸上增加了8 mm的超程，以防損壞。
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 | 與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。 |
感應(yīng)方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2σ µm) | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm |
XY (2D) 侖廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1：±0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 侖廓測(cè)量偏差 | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm | 電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm |
測(cè)針交換的重復(fù)性 | SCR200：±0.50 µm（大） 手動(dòng)：±1 µm（大） | SCR200：±0.50 µm（大） 手動(dòng)：±1 µm（大） |
測(cè)力（測(cè)尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
過行程測(cè)力（位移為0.50 mm時(shí)） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
重量（測(cè)頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
長(zhǎng)加長(zhǎng)桿（如配在PH10 PLUS系列測(cè)座上） | 300 mm | 300 mm |
推薦的大測(cè)針長(zhǎng)度（M2測(cè)針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測(cè)針模塊交換架 | 自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1 | 自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1 |
測(cè)針系列 | M2 | M2 |
測(cè)針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上，具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭過行程保護(hù)功能。
有三種測(cè)針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測(cè)力。
模塊 | SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力） | LF（低測(cè)力） | EO（長(zhǎng)過行程） |
|---|---|---|---|
應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測(cè)球或必須使用小測(cè)力的場(chǎng)合。 | 額外過行程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測(cè)針長(zhǎng)可達(dá)100 mm，測(cè)球直徑 > 1 mm。 | 測(cè)球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測(cè)力相同。 測(cè)頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
