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            BH分析儀測試異常是由哪些原因造成的

            閱讀:491      發(fā)布時間:2024-8-30
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            一、進行高頻測量時更改繞組匝數(shù)后,為什么鐵芯損耗測量值會出現(xiàn)差異?

                  產(chǎn)生差異的原因之一可能是受到了LC并聯(lián)諧振現(xiàn)象的影響。諧振頻率根據(jù)繞組匝數(shù)而變化。如果檢測電壓、檢測電流均在B-H分析儀的可測量范圍即可執(zhí)行鐵芯損耗測量,但B-H分析儀的輸入電容C與試樣的電感L會形成LC并聯(lián)諧振電路,所以在執(zhí)行高頻測量時需注意。使用時,請確保測量頻率在諧振頻率的1/10以下。諧振頻率fc可通過以下公式進行計算。

                  L:試樣的電感 C:B-H分析儀的輸入電容(SY-8218 / SY-8219約為18.5pF) N1:1次繞組匝數(shù) N2:2次繞組匝數(shù) 

            BH分析儀測試異常是由哪些原因造成的

                  此外,如果是高相位角(≧約87°)的試樣,其諧振影響將會變大,測量高相位角的試樣時,建議以諧振頻率1/20以下的頻率執(zhí)行測量。
                  原因之二可能是受到了試樣內(nèi)部磁場(的強度)、或磁通密度B的不均衡影響。試樣磁導(dǎo)率較低、形狀非環(huán)形、或繞組不均衡時,試樣內(nèi)部的H、B的大小大多會根據(jù)試樣的位置而異。更改繞組匝數(shù)后,H的平均勵磁位置、或B的平均檢測位置會發(fā)生變化,從而使鐵芯損耗產(chǎn)生差異。

            BH分析儀測試異常是由哪些原因造成的

            BH分析儀測試異常是由哪些原因造成的


            二、B-H分析儀測量線圈時繞組匝數(shù)和合理繞組方式

            (1)適合測量的繞組匝數(shù)是多少?

            推薦繞組匝數(shù)如下所示。
            勵磁線圈N1:3圈以上
            檢測線圈N2:1圈以上且N1≧N2

            N1較少時所需磁場(的強度)則需要更大的電流,N2較多時檢測到的感應(yīng)電壓會增加。 此外,N1。


            (2)試樣線圈的合理繞組方式是什么?

                  線圈應(yīng)盡可能按相同間隔繞于試樣上,以確保磁芯內(nèi)的磁場(的強度)達到均衡、或磁通密度的檢測部位不會發(fā)生偏移。尤其是檢測線圈,應(yīng)貼合試樣進行繞線,以確保無效磁通不會在檢測線圈與磁芯之間的空隙中發(fā)生鎖交。勵磁線圈與檢測線圈重疊時,先繞至檢測線圈使其與試樣貼合。勵磁線圈與檢測線圈的繞組匝數(shù)相同時,建議采用雙線繞組的方式。雙線繞組是指1次繞組(勵磁線圈)和2次繞組(檢測線圈)配套繞組,與分別各自繞組相比可減少漏磁通,改善1次~2次之間的耦合系數(shù)。

            【參照】雙線繞組

            BH分析儀測試異常是由哪些原因造成的

            三、通過正弦波勵磁使Bm的值增大后,測得的電流、或電壓波形不是正弦波形而且失真的原因

            波形失真現(xiàn)象是試樣的特性。相對磁場(的強度)H的磁通密度B的大小會發(fā)生非線形變化所致。尤其是接近試樣的飽和磁通密度后,波形失真會更加明顯。

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            四、B-H分析儀測量時,鐵芯損耗等測量值發(fā)生大幅度變化的原因

            軟磁性體一般均具有溫度特性。尤其是鐵氧體在接近室溫時的磁力特性不穩(wěn)定。B-H分析儀想要正確執(zhí)行軟磁性體的磁力特性測量時,需通過恒溫箱使試樣保持一定溫度的狀態(tài)下執(zhí)行測量。

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                  此外,根據(jù)不同的材料,磁力特性有時會因勵磁時間及勵磁歷史而發(fā)生變化,與試樣溫度無關(guān)。追加選配件的連續(xù)測量功能SY-811后,可觀測MAX 99,999min(約70天)的磁力特性每1[min]的時間變化。如果磁力特性在每次測量時都會發(fā)生較大變化,則建議通過SY-811執(zhí)行連續(xù)測量,確認磁力特性是否會因勵磁時間而發(fā)生時間變化。


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