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            西安安泰電子科技有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第8年

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            Aigtek功率放大器基于鐵芯微型磁通門的測(cè)試分析研究

            時(shí)間:2021/12/22閱讀:323
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            功率放大器被廣泛的用于MEMS測(cè)試,壓電陶瓷驅(qū)動(dòng),換能器驅(qū)動(dòng),無損檢測(cè),微粒分選,超聲波測(cè)試等多個(gè)方面,今天帶大家了解功率放大器基于鐵芯微型磁通門的測(cè)試分析研究的案例。實(shí)驗(yàn)過程詳細(xì)如下:

            實(shí)驗(yàn)名稱:功率放大器基于多孔鐵芯微型磁通門的測(cè)試與分析技術(shù)研究

            實(shí)驗(yàn)?zāi)康模罕竟?jié)主要對(duì)采用MEMS工藝制備的經(jīng)過拓?fù)鋬?yōu)化后的多孔鐵芯三維螺線管式微型磁通門進(jìn)行了測(cè)試。在不同的被測(cè)外磁場(chǎng)、不同的激勵(lì)電流值和激勵(lì)頻率下對(duì)磁通門的靈敏度、線性范圍、噪聲、剩磁誤差等一系列性能指標(biāo)進(jìn)行了測(cè)定。

            實(shí)驗(yàn)設(shè)備:信號(hào)發(fā)生器,ATA-4011功率放大器,磁強(qiáng)計(jì),電流表,磁通門,示波器,頻譜分析儀等。

            實(shí)驗(yàn)過程:

            磁通門的激勵(lì)信號(hào)由任意信號(hào)發(fā)生器和功率放大器ATA-4011級(jí)聯(lián)產(chǎn)生。電流表串聯(lián)在激勵(lì)回路中,測(cè)量激勵(lì)電流的大小。直流電源激勵(lì)螺線管產(chǎn)生被測(cè)外部磁場(chǎng),螺線管電流由電流表指示。微型磁通門的感應(yīng)線圈兩端與示波器相連,分析輸出的電壓信號(hào)。感應(yīng)線圈兩端與示波器直接相連。

             

            磁通門測(cè)試系統(tǒng)原理框圖

             

            在磁傳感器的測(cè)試中需要排除外界磁場(chǎng)的影響,其中地磁場(chǎng)是外界磁場(chǎng)的主要組成部分。地磁場(chǎng)包括基本磁場(chǎng)和變化磁場(chǎng)?;敬艌?chǎng)是主體,屬于靜磁場(chǎng),比較穩(wěn)定;變化磁場(chǎng)則是指各種短期變化,相對(duì)比較微弱。在測(cè)試各項(xiàng)指標(biāo)時(shí),關(guān)鍵要保證環(huán)境磁場(chǎng)的平穩(wěn),零磁空間(磁場(chǎng)強(qiáng)度保持為0nT的空間)是最為理想的環(huán)境。地磁場(chǎng)強(qiáng)度大約在50-60μT,會(huì)給磁通門的測(cè)試帶來較大的干擾,因此實(shí)際測(cè)試中多采用磁屏蔽裝置對(duì)地磁場(chǎng)進(jìn)行屏蔽來模擬零磁空間。

            實(shí)驗(yàn)結(jié)果:

            1)激勵(lì)電流對(duì)靈敏度和線性范圍的影響;

                  為了測(cè)試不同的激勵(lì)電流對(duì)微型磁通門的靈敏度和線性范圍的影響,采用了500kHz固定頻率的正弦激勵(lì),激勵(lì)電流有效值分別為60mA、70mA、80mA、100mA、120mA。通過改變外磁場(chǎng)的大小,分別測(cè)試了在以上幾種激勵(lì)電流下,微型磁通門的輸出電壓二次諧波幅值隨外磁場(chǎng)的變化曲線,如圖所示。

            功率放大器應(yīng)用實(shí)驗(yàn)結(jié)果.png 

            不同激勵(lì)電流下二次諧波幅值隨外磁場(chǎng)的變化曲線

            2)激勵(lì)頻率對(duì)靈敏度和線性范圍的影響;

            為了測(cè)試激勵(lì)電流頻率對(duì)微型磁通門的靈敏度和線性范圍的影響,采用了80mA的正弦激勵(lì)電流,激勵(lì)頻率分別為400kHz、600kHz、 800kHz、 1000kHz、 1200kHz。 通過改變外磁場(chǎng)的大小,分別測(cè)試了在以上幾種激勵(lì)頻率下,微型磁通門的輸出電壓二次諧波幅值隨外磁場(chǎng)的變化曲線,如圖所示。

            功率放大器實(shí)驗(yàn)結(jié)果2.png 

            不同激勵(lì)頻率下二次諧波幅值隨外磁場(chǎng)的變化曲線

            在磁通門的測(cè)試過程中,隨著激勵(lì)頻率的提高,鐵芯的渦流效應(yīng)和趨膚效應(yīng)在逐漸加深,這會(huì)帶來較大的能量損耗,影響磁通門的性能指標(biāo)和工作效果。另外,隨著激勵(lì)頻率的提高,輸出回路的幅頻特性也會(huì)發(fā)生明顯改變。因此,提高頻率對(duì)提高磁通門性能的效果會(huì)逐漸減弱。

            實(shí)驗(yàn)中用到的功率放大器ATA-4011參數(shù)指標(biāo):

            本文實(shí)驗(yàn)由西安安泰電子整理發(fā)布,西安安泰電子科技有限公司(Aigtek)是國內(nèi)專業(yè)從事測(cè)量儀器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司致力于功率放大器、計(jì)量校準(zhǔn)產(chǎn)品、線束測(cè)試儀等產(chǎn)品為核心的相關(guān)行業(yè)測(cè)試解決方案的研究,為用戶提供具有競爭力的測(cè)試方案,Aigtek 已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線,且具有相當(dāng)規(guī)模的儀器設(shè)備供應(yīng)商,樣機(jī)都支持免費(fèi)試用。如想了解更多實(shí)驗(yàn)方案,請(qǐng)持續(xù)關(guān)注安泰電子。

            此實(shí)驗(yàn)案例參考自知網(wǎng)論文基于多孔軟磁薄膜的微型磁通低功耗技術(shù)研究


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