ATECLOUD智能云測試平臺,中國人自己的“LABVIEW”
ATECLOUD智能云測試平臺是由納米軟件自主研發(fā)的文字化語言編程軟件平臺,可用于上位機(jī)軟件開發(fā),一拖即用,相較于傳統(tǒng)的代碼編程、LabVIEW軟件的圖形化編程,平臺封裝了算子、各類儀器指令、數(shù)據(jù)洞察,讓不懂編程的人也可以快速上手。平臺具有強(qiáng)大功能,界面清爽流暢,操作十分簡單,輕松編寫語言。平臺為大家提供了非常不錯(cuò)的程序開發(fā)環(huán)境,此軟件有著極為強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),可以幫助大家更快的集成各類數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析,兼容性也非常強(qiáng),是開發(fā)測量或控制系統(tǒng)的理想選擇。
ATECLOUD去LabVIEW化,無需編程,15分鐘快速搭建自動化測試;
自定義報(bào)告模板,可實(shí)現(xiàn)快速建立、快速修改;
充分利用大數(shù)據(jù)、云計(jì)算,發(fā)揮數(shù)據(jù)的無限價(jià)值;
ATECLOUD-APP在任何時(shí)間任何,地點(diǎn)皆能滿足您的遠(yuǎn)程測試要求;
數(shù)據(jù)可視化為您提供測試數(shù)據(jù),實(shí)時(shí)分析實(shí)時(shí)展示。
使用納米軟件ATECLOUD智能云測試平臺,您可以快速獲得來自各種測量硬件的真實(shí)世界數(shù)據(jù),
作為測量和自動化應(yīng)用程序的一部分,它使得控制任何測量硬件來收集數(shù)據(jù)成為可能。
ATECLOUD智能云測試平臺可用于儀器程控、電子元器件自動測試系統(tǒng)、多通道數(shù)據(jù)采集測試系統(tǒng)、
電源模塊自動測試系統(tǒng)、LCR自動測試系統(tǒng)、其他根據(jù)用戶需求非標(biāo)定制的測試項(xiàng)目方面。
應(yīng)用場景
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將被測產(chǎn)品及測試儀器進(jìn)行測試環(huán)境搭建
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在ATECLOUD平臺進(jìn)行測試方案編輯
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ATECLOUD平臺自動測試并保存測試數(shù)據(jù)
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ATECLOUD平臺的豐富算法模型,高質(zhì)量的分析報(bào)告,挖掘數(shù)據(jù)深度價(jià)值
產(chǎn)品特點(diǎn)
硬件結(jié)構(gòu)
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支持互聯(lián)網(wǎng)或局域網(wǎng)部署
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GPIB/USB/LAN/RS232/485多種接口庫
軟件架構(gòu)
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自主研發(fā),多層級數(shù)據(jù)存儲
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大數(shù)據(jù)系統(tǒng)
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試驗(yàn)運(yùn)行全面控制
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獨(dú)立賬號安全可靠
工作原理
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ATE-GATEWAY
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ATE-GATEWAY提高數(shù)據(jù)采集的吞吐量,滿足時(shí)效性要求
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ATEBOX
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ATEBOX與各類設(shè)備快速對接;ATEBOX作為總控單元與硬件層的中間環(huán)節(jié),完成與各類標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備、非標(biāo)設(shè)備或PLC的快速對接。
使用流程
數(shù)據(jù)分析
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實(shí)時(shí)監(jiān)控
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電子看板
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預(yù)警提醒
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測試管理
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案例展示
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