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ATECLOUD芯片自動化測試平臺，打破傳統(tǒng)自動化測試5大問題
芯片測試通常包括以下幾個步驟：設計驗證測試（Design Verification Testing）：在設計階段，通過一系列的仿真和驗證測試來確保設計的正確性和可行性。這些測試可能包括電路板布局、邏輯分析、時序分析等。原型驗證測試（Prototype Verification Testing）：在原型開發(fā)階段，對設計的硬件部分進行實際測試，以驗證其功能和性能。這可能包括單元測試、集成測試、系統(tǒng)測試等。生產(chǎn)驗證測試（Production Verification Testing）：在量產(chǎn)前，對生產(chǎn)的芯片進行全面的測試，以確保其滿足規(guī)格要求和質量標準。這可能包括生產(chǎn)線測試、環(huán)境測試、可靠性測試等。故障分析與修復（Fault Analysis and Repair）：在生產(chǎn)過程中，如果發(fā)現(xiàn)芯片存在問題，需要進行故障分析和修復。這可能包括使用專門的設備和工具對芯片進行檢測和修復。最終測試（Final Testing）：在芯片交付給客戶之前，進行最后的全面測試，以確保產(chǎn)品的質量和性能符合預期。這可能包括功能測試、性能測試、兼容性測試等。以處理器舉例，F(xiàn)inalTest可以分成兩個步驟：
1、?動測試設備（ATE）
2、系統(tǒng)級別測試（SLT）
ATE的測試?般需要?秒，?SLT需要?個?時，ATE的存在??的減少了芯?測試時間。
ATE負責的項??常之多，?且有很強的邏輯關聯(lián)性。測試必須按順序進?，針對前列的測試結果，后列的測試項?可能會被跳過。這些項?的內容屬于公司機密，?如電源檢測，管腳DC檢測，測試邏輯（?般是JTAG）檢測，burn-in，物理連接PHY檢測，IP內部檢測（包括Scan，BIST，F(xiàn)unction等），IP的IO檢測（?如DDR，SATA，PLL，PCIE，Display等），輔助功能檢測（?如熱?學特性，熔斷等）。這些測試項都會給出Pass/Fail，根據(jù)這些Pass/Fail來分析芯?的體質，是測試?程師的?作。
SLT在邏輯上則簡單?些，把芯?安裝到主板上，配置好內存，外設，啟動?個操作系統(tǒng)，然后?軟件烤機測試，記錄結果并?較。另外還要檢測BIOS相關項等。?所有的這些?作，都需要芯?設計?程師在流?之前都設計好。測試?作在芯?內是由專屬電路負責的，這部分電路的搭建由DFT?程師來做，在流?后，DFT?程師還要?成配套輸??量，?般會?成?萬個。
這些?量是否能夠正常的檢測芯?的功能，需要產(chǎn)品開發(fā)?程師來保證。此外還需要測試?程師，產(chǎn)品?程師，和助?來?同保證每天能夠完成?萬?芯?的?產(chǎn)任務不會因為測試邏輯bug?延遲?？紤]到每?次測試版本迭代都是??萬?的代碼，保證代碼不能出錯。需要涉及上百?的測試?程師協(xié)同?作，這還不算流?線技?，因此測試是費時費?的?作。實際上，很多?公司芯?的測試成本已經(jīng)接近研發(fā)成本。因此比傳統(tǒng)自動化芯片測試設備更具優(yōu)勢的ATECLOUD智能云測試平臺是如今大多企業(yè)進行芯片自動化測試的選擇。
ATECLOUD是智能化測試的一套控制系統(tǒng)。主要用于程控設備自動化測試，ATECLOUD可以解決傳統(tǒng)自動化測試的所有痛點問題，傳統(tǒng)自動化測試出現(xiàn)的研發(fā)周期長/費用高/靈活性差/部署麻煩/數(shù)據(jù)安全這些問題 ATECLOUD都可以解決。
ATECLOUD作為國產(chǎn)化的智能測試平臺具有以下優(yōu)勢：
快速：
快速組建測試工步，客戶最清楚自己的測試過程，自己編寫隨時優(yōu)化測試過程即刻開始利用數(shù)據(jù)。
靈活：
1、靈活支持各類接口協(xié)議；
2、靈活配置對數(shù)據(jù)的加工和判別算法，可以支持自定義計算公式；
3、靈活定義測試報告；
4、靈活監(jiān)控測試過程（電腦/平板/監(jiān)控大屏）測試數(shù)據(jù)智能分析：在線分析/定制數(shù)據(jù)看板——可改進產(chǎn)品質量，改進測試工藝給領導看方便管理。
安全：
1、通訊安全（網(wǎng)絡環(huán)節(jié)采用https加密傳輸；
2、數(shù)據(jù)安全（多節(jié)點數(shù)據(jù)庫）；
3、應用部署。
ATECLOUD智能云測試平臺詳情介紹：