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            紅外顯微鏡是如何組成的?測量方式有哪些?

            閱讀:405      發(fā)布時間:2022-8-25
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              紅外顯微鏡主要由載物臺、紅外光源、聚光鏡、物鏡、調(diào)焦機(jī)構(gòu)、圖像轉(zhuǎn)換管、目鏡、攝像頭及計(jì)算機(jī)等組成。目前紅外顯微鏡可以提供兩種范圍的紅外波長,可以滿足不同研究工作的需要。
             

             

              系統(tǒng)組成:
              紅外顯微鏡是將紅外光譜儀與光學(xué)顯微鏡聯(lián)用的系統(tǒng)。主要由紅外主機(jī)、紅外顯微鏡系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)組成。紅外顯微鏡由于其精密性,多采用干涉原理,主要部件包括邁克爾遜干涉儀、顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)、檢測器等。
              由紅外光源發(fā)出的光經(jīng)分束器分為兩束光,一束由動鏡經(jīng)分束器反射到樣品后進(jìn)入檢測器;另一束由定鏡反射經(jīng)分束器、樣品后到檢測器,兩束光作用于樣品,并在檢測器處發(fā)生干涉。干涉儀將光源來的信號經(jīng)過樣品后以干涉圖的形式送往計(jì)算機(jī)進(jìn)行傅里葉變換的數(shù)學(xué)處理,最后將干涉圖還原為光譜圖。
             
              測量方式:
              紅外顯微鏡按其光路系統(tǒng)的差異,一般分為非同軸光路紅外顯微鏡和同軸光路紅外顯微鏡兩大類。非同軸光路紅外顯微鏡是較早推出使用的一類紅外顯微鏡,具有透射式和反射式兩種操作功能。同軸光路紅外顯微鏡是另一類紅外顯微鏡,也具有透射式和反射式兩種操作模式。也可以采用衰減全反射模式,它采用的是硅晶體。
              根據(jù)紅外顯微鏡所測樣品的形態(tài)、性質(zhì)和測試要求,可以選擇透射、反射、衰減全反射三種測試模式。透射模式是測定樣品的主要方法,可提供較好的信噪比,適應(yīng)于測試透光性較好的樣品,如厚度小于20μm的薄膜、固體切片;反射模式是效率較高的一種測試方法,適應(yīng)于測定背景比較光亮、光反射較強(qiáng)的樣品,如微小顆粒樣片;衰減全反射模式,在某些情況下是*的一種測量方法,適應(yīng)于測定需進(jìn)行表面成分或表面污染物分析的樣品。

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