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規(guī)格型號(hào)：45MG
品牌廠家：美國(guó)泛美OLYMPUS（奧林巴斯）
APFNCHD·彩色透反QVGA顯示
·雙晶腐蝕測(cè)厚
·精確厚度測(cè)量
·堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 產(chǎn)品概述：
Olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。
Olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀在使用基本配置時(shí)，是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀，操作人員經(jīng)過基本的培訓(xùn)，就可完成較常用的測(cè)厚應(yīng)用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后，就會(huì)變成一款極為高級(jí)的測(cè)厚儀，可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買儀器時(shí)分別購(gòu)買，或在日后需要時(shí)購(gòu)買。
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 基本功能：
■與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量
■小值/大值模式
■兩個(gè)報(bào)警模式
■差值模式
■時(shí)基B掃描
■縮減率
■增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）
■密碼式儀器鎖定
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 抵御惡劣環(huán)境的能力：
■堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
■爆炸性氣氛：可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級(jí)2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。
■防撞擊測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
■防振動(dòng)測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
■寬泛的操作溫度范圍
■可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念：
■可只用右手或左手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)
■可直接訪問大多數(shù)功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面
■使用內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式
■USB通訊端口
■可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
■默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
■密碼保護(hù)方式的儀器鎖定
■彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有的清晰度
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 技術(shù)規(guī)格：
olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀測(cè)量 | ||||||||
雙晶探頭測(cè)量模式 | 從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 | |||||||
自動(dòng)回波到回波（可選） | 在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。 | |||||||
穿透涂層測(cè)量 （可選） | 利用單個(gè)底面回波，測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） | |||||||
單晶探頭測(cè)量模式（可選） | 模式1：激勵(lì)脈沖與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 | |||||||
厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測(cè)量較全的范圍需要使用單晶選項(xiàng)） | |||||||
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） | |||||||
分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） | |||||||
探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） | |||||||
olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀一般規(guī)格 | ||||||||
操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） | |||||||
鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 | |||||||
機(jī)殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼，機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 | |||||||
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |||||||
重量 | 430.9克 | |||||||
電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng) | |||||||
電池工作時(shí)間 | 3節(jié)AA堿性電池：20到21小時(shí) | |||||||
標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn) | |||||||
olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀顯示 | ||||||||
彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 | |||||||
檢波 | 全波、RF波、正半波、負(fù)半波（波形選項(xiàng)） | |||||||
olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀輸入/輸出 | ||||||||
USB | 2.0從接口 | |||||||
存儲(chǔ)卡 | 大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡 | |||||||
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選） | ||||||||
數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識(shí)別、存儲(chǔ)、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 | |||||||
容量 | 475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形 | |||||||
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼 | |||||||
文件結(jié)構(gòu) | 6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) | |||||||
報(bào)告 | 機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和小值/大值 | |||||||
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 標(biāo)準(zhǔn)配置：
■45MG數(shù)字式超聲測(cè)厚儀
■AA堿性電池
■2階試塊和耦合劑
■USB線纜
■用戶手冊(cè)，存于CD盤上
■測(cè)量功能：小值/大值模式、兩個(gè)報(bào)警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 軟件選項(xiàng)：
■45MG-SE (U8147022)：?jiǎn)尉нx項(xiàng)，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
■45MG-HP (U8147023)：?jiǎn)尉Ц叽┩高x項(xiàng)，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
■45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層
■45MG-WF (U8147019)：波形選項(xiàng)
■45MG-DL (U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序
美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀 選購(gòu)附件：
■MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD存儲(chǔ)卡
■45MG-RPC (U8779676)：帶支架的橡膠保護(hù)套
感謝您關(guān)注我們的產(chǎn)品美國(guó)泛美OLYMPUS 45MG 超聲波測(cè)厚儀。