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            廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
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            標(biāo)樂Buehler 金相制樣
            徠卡Leica 顯微鏡
            徠卡Leica 電鏡制樣
            威爾遜
            形創(chuàng) 三維掃描測量
            萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
            麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
            埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
            卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
            鼎竑離子減薄
            EM科特 臺式掃描電鏡
            美墨爾特
            微曠 高性能原位X射線CT
            英斯特朗Instron 力學(xué)測試
            業(yè)納 長度測量儀器
            澤攸科技掃描電鏡&臺階儀
            島津Shimadzu 色譜
            島津Shimazu 元素分析與光譜儀
            島津Shimazu 表面分析
            島津Shimadzu 物理性分析
            島津Shimadzu 無損檢測
            TQC /SHEEN涂料測試
            其他設(shè)備
            金相切片耗材

            應(yīng)用案例 | 紙張涂層截面制備

            時(shí)間:2023/12/20閱讀:276
            分享:

             紙張涂層截面 

            制備方案





            實(shí)驗(yàn)過程




            1

            樣品信息

            樣品名稱:紙涂層

            樣品特點(diǎn):紙張基體較軟,易變形;涂層較硬,易碎易脫落。

            如下圖,裁取中間顏色較淺的部分進(jìn)行制備。

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            2

            分析目的

            對樣品截面進(jìn)行離子束加工,以獲得平整截面便于后續(xù)進(jìn)行能譜分析。


            3

            制備流程總覽

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            4

            精研一體機(jī)(EM TXP)制備過程:

            將樣品包埋成小長方體塊(圖1),用TXP 扁平夾具固定樣品磨截面(圖2),用適用不同插件的樣品夾磨平面(圖3)。所用工具從左到右依次排列為:45 µm磨片、9 µm磨片(圖4)。

            圖片


            5

            離子束切割制備過程:

            EM TIC 3X離子研磨參數(shù):

            常溫制備

            程序:

            (3 kV/30 min,0 kV/10 min)X6

            圖片


            6

            離子束切割結(jié)果:

            觀察與拍照(電鏡SE): 

            離子束切割樣品

            左圖為200 X,右圖為1000 X。

            圖片
            圖片


            7

            離子束切割結(jié)果:

            觀察與拍照(電鏡BSE): 

            離子束切割樣品

            左圖為1000 X,右圖為2000 X。

            圖片
            圖片
            圖片



            小結(jié)





            涂層易碎,必須包埋才能在加工過程中保持涂層的完整。

            更推薦使用離子束拋光方案來做,耐熱程度不高,需低電壓切割,所花時(shí)間較長。

            離子束拋光前的機(jī)械處理可選擇精研一體機(jī)或普通研磨拋光機(jī)來完成,盡量采用低載荷來完成。

            圖片

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