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            廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第3年

            400-8084-333

            標(biāo)樂Buehler 金相制樣
            徠卡Leica 顯微鏡
            徠卡Leica 電鏡制樣
            威爾遜
            形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
            萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
            麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
            埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
            卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
            鼎竑離子減薄
            EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
            美墨爾特
            微曠 高性能原位X射線CT
            英斯特朗Instron 力學(xué)測(cè)試
            業(yè)納 長度測(cè)量儀器
            澤攸科技掃描電鏡&臺(tái)階儀
            島津Shimadzu 色譜
            島津Shimazu 元素分析與光譜儀
            島津Shimazu 表面分析
            島津Shimadzu 物理性分析
            島津Shimadzu 無損檢測(cè)
            TQC /SHEEN涂料測(cè)試
            其他設(shè)備
            金相切片耗材

            應(yīng)用案例丨PCB板表面銀鍍層的截面制備

            時(shí)間:2024/1/18閱讀:305
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            PCB板作為集成電子元器件的連接載體,其質(zhì)量好與壞會(huì)直接影響智能電子設(shè)備的性能。譬如PCB板表面的銅層暴露在空氣中很容易被氧化,從而損害PCB板的電氣性能。為了防止銅層被氧化,工程師們想出了各種方法來保護(hù)PCB板表面,如鍍上金或者覆蓋一層銀等金屬,這樣不僅可以提高PCB板的防護(hù)性,還能提高其可焊接性、導(dǎo)電性和耐磨性。這些金屬鍍層的厚度大小需要控制在一定范圍內(nèi),我們可通過制備PCB板的截面來檢測(cè)鍍層厚度是否滿足要求。

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            覆蓋銀層的PCB板需要獲得其較小的厚度值,普通的機(jī)械磨拋會(huì)帶來一定的變形而產(chǎn)生較大誤差。因此在機(jī)械磨拋后,可再進(jìn)行離子束拋光,從而去除機(jī)械應(yīng)力,獲得真實(shí)的厚度數(shù)據(jù)。



            # 01冷鑲嵌

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            耗材:

            標(biāo)樂型號(hào)為EpoKwickTMFC的環(huán)氧樹脂及相應(yīng)固化劑套裝;

            標(biāo)樂型號(hào)為SamlKupTM的模杯;

            標(biāo)樂型號(hào)為ReleaseAgent的脫模劑。

            過程:

            脫模劑涂抹模杯,以樹脂與固化劑以4.4:1的重量比混合,攪拌均勻后倒入直徑25mm的模杯內(nèi),鑲嵌的高度控制在12cm以內(nèi),待約2h后凝固。

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            圖1. 鑲嵌示意圖




            # 02 機(jī)械磨拋



            研磨過程采用的是標(biāo)樂型號(hào)為EcoMet30手自一體磨拋機(jī),主要參數(shù)如下表所示:

            表1.機(jī)械磨拋參數(shù)

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            圖2是經(jīng)機(jī)械研磨后,在光學(xué)顯微鏡下觀察到的形貌,研磨表面光潔平整無劃痕。

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            圖2. Ag鍍層截面在金相顯微鏡下的磨拋?zhàn)罱K狀態(tài)

            (物鏡100X)



            # 03離子束拋光

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            采用工裝工具和樣品臺(tái)調(diào)整好樣品的高度與水平度,裝夾入離子束切割拋光儀樣品倉內(nèi),設(shè)置參數(shù)后開始。離子束拋光參數(shù)如下表:

            表2.離子束拋光參數(shù)

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            下圖3是經(jīng)機(jī)械研磨+離子束拋光處理后,掃描電子顯微鏡SEM下觀察,可清晰地分辨鍍層并準(zhǔn)確地測(cè)量其厚度,厚度尺寸約為417nm。

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            圖3. Ag鍍層截面離子束拋光后在SEM下的狀態(tài)



            # 04 備注

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             1、樣品鑲嵌時(shí)要確保樣品垂直,避免傾斜使得測(cè)量的厚度結(jié)果偏大;

             2、以上參數(shù)僅供參考,可根據(jù)當(dāng)下具體樣品材料等信息進(jìn)行調(diào)整。



            # 05 所用設(shè)備

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            標(biāo)樂手自一體研磨機(jī)EcoMet30


            圖片

            徠卡金相顯微鏡DM4M


            圖片

            Leica EM TIC3X離子束切割拋光儀


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