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            廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第3年

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            標(biāo)樂Buehler 金相制樣
            徠卡Leica 顯微鏡
            徠卡Leica 電鏡制樣
            威爾遜
            形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
            萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
            麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
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            卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
            鼎竑離子減薄
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            微曠 高性能原位X射線CT
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            島津Shimadzu 色譜
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            島津Shimadzu 無損檢測(cè)
            TQC /SHEEN涂料測(cè)試
            其他設(shè)備
            金相切片耗材

            顯微課堂 | 鈣鈦礦納米晶超薄制樣

            時(shí)間:2025/4/22閱讀:59
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            鈣鈦礦是指一類陶瓷氧化物,分子通式為ABX3,近年來,鈣鈦礦憑借很高的結(jié)構(gòu)可設(shè)計(jì)性以及優(yōu)秀的光伏性能,在材料科學(xué)領(lǐng)域大放異彩。鈣鈦礦起源于1839年發(fā)現(xiàn)的一種天然礦物:鈣鈦氧化物(CaTiO3),如今成為具有ABX3結(jié)構(gòu)材料的統(tǒng)稱;2009年制備出了具有光電轉(zhuǎn)換效率的鈣鈦礦太陽能電池器件;現(xiàn)如今,鈣鈦礦材料作為第三代全新光伏技術(shù),具備低成本、高轉(zhuǎn)換效率和適合大面積應(yīng)用等優(yōu)勢(shì),展現(xiàn)出令人振奮的未來前景。

            如圖為鈣鈦礦材料的“八面體骨架+填充陽離子"ABX3結(jié)構(gòu),藍(lán)色的為A位,通常為較大的陽離子如銫(Cs)等,占據(jù)立方體的頂點(diǎn);綠色的為B位,通常為較小的金屬陽離子如鉛、錫等,占據(jù)立方體的中心;紅色的為X位,通常為鹵素或其他陰離子如碘、溴、氯等,構(gòu)成八面體結(jié)構(gòu)包圍B位離子。這類特殊的結(jié)構(gòu)賦予了鈣鈦礦材料更高的結(jié)構(gòu)可設(shè)計(jì)性,可通過替換A、B、X位的元素實(shí)現(xiàn)調(diào)控材料光電性能的目的。文章研究的CsPbBr3材料A、B、X位元素分別為Cs、Pb、Br。


            CsPbBr3是一種金屬鹵化物鈣鈦礦半導(dǎo)體材料,是一種良好的電荷傳輸材料。CsPbBr3有較大的原子序數(shù),決定了它具有較高的射線吸收系數(shù);具有較大的禁帶寬度,禁帶寬度為2.26eV,使得它可以耐受更高的溫度與電壓,可以在室溫下工作;同時(shí),較大的載流子遷移率讓它成為一個(gè)很好的電荷傳輸材料。正因如此,CsPbBr3是優(yōu)秀的室溫半導(dǎo)體新材料,在太陽能電池、光探測(cè)器等領(lǐng)域具有廣闊的前景。




            但該材料穩(wěn)定性較差,深入研究影響該類材料結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性和物理性質(zhì)的因素并揭示其微觀機(jī)制對(duì)開發(fā)新型卓效的光伏和光電器件具有重要意義。本文研究金屬鹵化物鈣鈦礦半導(dǎo)體材料CsPbBr3,通過徠卡超薄切片技術(shù)實(shí)現(xiàn)透射電鏡的觀察,探索這一鈣鈦礦材料的微觀結(jié)構(gòu)。



            圖示是我們超薄制樣的樣品:嵌有CsPbBr3鈣鈦礦納米晶的聚酰亞胺(PI),其中納米晶的大小為50 nm-2 µm不等,使用徠卡超薄切片機(jī)UC Enuity切片樣品截面,觀察截面上的CsPbBr3鈣鈦礦納米晶。

            取樣后使用濾紙保護(hù)后用扁平樣品夾夾持。



            使用修塊刀修整切割平面,得到切片窗口。


            更換為超薄切片刀,利用光隙帶對(duì)準(zhǔn)刀鋒與切面。


            切出500 nm的厚片用于光鏡觀察,180 nm的薄片用于透射電鏡觀察。左側(cè)為180 nm厚度的薄片,右側(cè)為500 nm,使用載網(wǎng)撈起轉(zhuǎn)移至光鏡與透射電鏡觀察。

            光鏡觀察


            將500 nm的片轉(zhuǎn)移至載網(wǎng)上,在徠卡DM4M顯微鏡下觀察,在暗場(chǎng)下,可以看到聚酰亞胺薄片上有明顯的大小不同的納米晶。

            透射電鏡觀察



            將180 nm的片轉(zhuǎn)移至載網(wǎng)上,在透射電子顯微鏡下觀察,低倍率下可以發(fā)現(xiàn)大顆粒的納米晶由于尺寸遠(yuǎn)大于薄片厚度,脫落形成了空位,小顆粒的納米晶則留在了薄片上。定位在小顆粒的納米晶上,通過EDS測(cè)試含Cs、Pb、Br元素,確認(rèn)為我們的CsPbBr3鈣鈦礦納米晶,高倍率下觀察樣品的結(jié)構(gòu),可以觀察到清晰的晶格條紋,通過對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)的分析,對(duì)該類鈣鈦礦材料的性質(zhì)研究有重要意義。

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            UC Enuity 超薄切片機(jī)



            DM4M



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