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            廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
            初級(jí)會(huì)員 | 第3年

            400-8084-333

            標(biāo)樂(lè)Buehler 金相制樣
            徠卡Leica 顯微鏡
            徠卡Leica 電鏡制樣
            威爾遜
            形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
            萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
            麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
            埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
            卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
            鼎竑離子減薄
            EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
            美墨爾特
            微曠 高性能原位X射線CT
            英斯特朗Instron 力學(xué)測(cè)試
            業(yè)納 長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x器
            島津Shimadzu 色譜
            島津Shimazu 元素分析與光譜儀
            島津Shimazu 表面分析
            島津Shimadzu 物理性分析
            島津Shimadzu 無(wú)損檢測(cè)
            TQC /SHEEN涂料測(cè)試
            其他設(shè)備
            金相切片耗材

            強(qiáng)勢(shì)來(lái)襲!STELLARIS,重新定義共聚焦

            時(shí)間:2024-1-29閱讀:277
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            STELLARIS

            重新定義共聚焦

            臻于真像



            激光共聚焦掃描顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)樣品普通光學(xué)顯微觀察(如明場(chǎng), 暗場(chǎng),偏光, C-DIC ,熒光等)的同時(shí),也能夠?qū)崿F(xiàn)樣品快速原位的高分辨三維表面成像,是材料研究分析的多維度和多尺度分析的解決方案,配置共聚焦熒光、 FLIM、STED、DLS和CRS等模塊還能夠?qū)崿F(xiàn)生物材料樣品高分辨熒光表征、熒光壽命、超分辨觀察等研究。



               洞察力  

               高潛力  

               生產(chǎn)力  





            01

            觀察更多的洞察力

            洞察入微

            收集精準(zhǔn)數(shù)據(jù)




            Power HyD檢測(cè)器系列提供更高的光子檢測(cè)效率(PDE),極低的暗噪聲,以及從410到850納米的廣域高靈敏度檢測(cè)。

            增強(qiáng)的圖像質(zhì)量

            STELLARIS兼顧了圖像的亮度、分辨率和對(duì)比度,可進(jìn)行高分辨的金相分析。

            光譜自由

            新一代白激光允許同時(shí)使用多達(dá)8條來(lái)自整個(gè)光譜的單一激發(fā)譜線。與其他任何共焦平臺(tái)相比,您可以對(duì)更多的熒光體組合進(jìn)行成像,并同時(shí)使用更多的標(biāo)簽,同時(shí)將選擇范圍擴(kuò)大到近紅外范圍。

            信號(hào)檢測(cè)超靈敏

            與傳統(tǒng)的光電倍增管 (PMT) 相比,光子檢測(cè)效率 (PDE) 提高到2倍,在近紅外一區(qū)內(nèi)更是提高3倍。









            02

            探索更多的高潛力

            全新信息維度

            盡在眼前




            STELLARIS的TauSense技術(shù)能夠從每個(gè)樣品中提取額外的信息,并增加你的研究的科學(xué)影響。TauSense由基于熒光壽命的面向應(yīng)用的成像工具組成,可以對(duì)材料進(jìn)行表面粗糙度分析、缺陷定位和分析以及發(fā)光缺陷觀察。


            STELLARIS搭載熒光壽命成像功能,一種正交于熒光強(qiáng)度并可相互參照的成像模式。


            嶄新的信息維度

            運(yùn)用 TauContrast 可提供即時(shí)的功能信息,例如代謝狀態(tài)、酸堿度和離子濃度,獲得額外的維度以及嶄新的、未曾探索過(guò)的深入視角,為您的研究帶來(lái)巨大的潛在價(jià)值。

            超越光譜的多維度

            即使發(fā)射光譜波段重疊,TauSeparation技術(shù)也可能將樣品組分分離?;跓晒鈮勖男畔⒖裳a(bǔ)充光譜信息,從而擴(kuò)大同時(shí)檢測(cè)通道的數(shù)量。



            運(yùn)用 TauGating 技術(shù)在保留目標(biāo)信號(hào)的同時(shí)去除多余的自發(fā)熒光,從而提高檢測(cè)效率。

            即使有內(nèi)在干擾信號(hào),您仍可輕松地從樣品中提取相關(guān)信息。











            03

            完成更多的生產(chǎn)力

            復(fù)雜成像

            亦可化繁為簡(jiǎn)




            簡(jiǎn)化的設(shè)置和采集。ImageCompass是STELLARIS的智能用戶界面,為用戶提供了一種簡(jiǎn)單直觀的方式,即使是復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)也只需點(diǎn)擊幾下就能設(shè)置好。

            簡(jiǎn)單快速

            通過(guò)LIGHTNING高分辨率、動(dòng)態(tài)信號(hào)增強(qiáng)(DSE)和強(qiáng)大的AI功能AiviaMotion,實(shí)時(shí)、全速地提供高質(zhì)量的圖像。 

            直觀的用戶界面

            ImageCompass引導(dǎo)你從實(shí)驗(yàn)設(shè)置到采集全流程。

            優(yōu)化你的實(shí)驗(yàn)

            整合LAS X Navigator工具,快速概覽全局,直觀成像。



            “拖-放"添加熒光探針

            自動(dòng)優(yōu)化激發(fā)和檢測(cè)

            直覺(jué)化操作設(shè)計(jì)

            自動(dòng)配置成像參數(shù)











            04

            共聚焦顯微鏡

            STELLARIS 5 & STELLARIS 8 




            STELLARIS 5


            STELLARIS 5是一個(gè)重新設(shè)計(jì)的核心系統(tǒng),樹(shù)立了共聚焦顯微領(lǐng)域的新標(biāo)準(zhǔn)。它是僅有的一個(gè)內(nèi)置WLL的共聚焦系統(tǒng),并與聲光分光器(AOBS)以及新的Power HyD S探測(cè)器相結(jié)合。STELLARIS 5采用TauSense新技術(shù),在圖像質(zhì)量和所產(chǎn)生的信息數(shù)量方面樹(shù)立起新的標(biāo)準(zhǔn)。智能用戶界面ImageCompass可輕松、直觀地引導(dǎo)您通過(guò)所有實(shí)驗(yàn)裝置采集數(shù)據(jù)獲得成像性能。

            STELLARIS 8


            STELLARIS 8是未來(lái)導(dǎo)向性系統(tǒng),具有擴(kuò)展光譜的WLL和專有的Power HyD系列探測(cè)器選項(xiàng),不僅提供STELLARIS 5核心系統(tǒng)的所有優(yōu)勢(shì),還有額外增添的功能。STELLARIS 8能夠與所有徠卡顯微系統(tǒng)模塊相結(jié)合,包括快速壽命成像(FALCON)、光譜式多光子顯微鏡(DIVE)、nm顯微鏡STED、光片(DLS)和CARS。STELLARIS 8的新特點(diǎn)可更大程度利用這些模塊的潛力,使您能夠?yàn)榭茖W(xué)研究樹(shù)立起新的標(biāo)準(zhǔn)。









            05

            產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域




            金屬 / 高分子 / 陶瓷材料

            表面粗糙度分析,高分辨金相分析,摩擦磨損分析, 斷口分析,腐蝕研究, 原位分析。

            微納加工

            結(jié)構(gòu)分析,表面粗糙度分析,高深寬比結(jié)構(gòu)表征,膜厚測(cè)量。

            半導(dǎo)體和微電子

            表面缺陷定位和分析、發(fā)光缺陷觀察,表面粗糙度分析,膜厚測(cè)量等。 

            醫(yī)療器械檢測(cè)

            表面粗糙度分析,金相分析,膜厚測(cè)量,微生物觀察等。

            生物材料和醫(yī)學(xué)

            金屬表面細(xì)胞生長(zhǎng)研究,微生物金屬腐蝕研究,植入物表面細(xì)菌生長(zhǎng)表征等。














            領(lǐng)拓儀器于2012年開(kāi)始代理徠卡品牌,擁有十多年的經(jīng)驗(yàn)積累和強(qiáng)大的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)。目前領(lǐng)拓儀器是徠卡顯微鏡的華南、西南授權(quán)代理商。

            了解更多新一代共聚焦顯微系統(tǒng)STELLARIS相關(guān)產(chǎn)品信息,歡迎前來(lái)咨詢溝通。






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