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            廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
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            400-8084-333

            標(biāo)樂Buehler 金相制樣
            徠卡Leica 顯微鏡
            徠卡Leica 電鏡制樣
            威爾遜
            形創(chuàng) 三維掃描測量
            萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
            麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
            埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
            卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
            鼎竑離子減薄
            EM科特 臺式掃描電鏡
            美墨爾特
            微曠 高性能原位X射線CT
            英斯特朗Instron 力學(xué)測試
            業(yè)納 長度測量儀器
            島津Shimadzu 色譜
            島津Shimazu 元素分析與光譜儀
            島津Shimazu 表面分析
            島津Shimadzu 物理性分析
            島津Shimadzu 無損檢測
            TQC /SHEEN涂料測試
            其他設(shè)備
            金相切片耗材

            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?

            時間:2024-11-18閱讀:75
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            2024年11月8日-10日,第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會在廣西南寧市廣西大學(xué)成功舉辦。

            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?

            本次會議研討內(nèi)容廣泛,包括特邀報告、中南六省電鏡工作者的學(xué)術(shù)與技術(shù)交流,以及透射電鏡、掃描電鏡、激光共聚焦顯微鏡等先進(jìn)儀器在生命科學(xué)、材料科學(xué)、納米科技、化學(xué)化工、環(huán)境科學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個領(lǐng)域的基礎(chǔ)和應(yīng)用研究成果。此外,會議還將深入討論電子顯微學(xué)相關(guān)儀器的理論、技術(shù)和實驗方法的發(fā)展與改進(jìn),分享電鏡的使用、改進(jìn)及維修等經(jīng)驗,并展示國內(nèi)外電鏡及相關(guān)儀器的新技術(shù)和新產(chǎn)品。



            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?
            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?
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            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?
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            本次會議,領(lǐng)拓儀器攜帶了Leica DVM6 超景深數(shù)碼3D視頻顯微鏡到現(xiàn)場進(jìn)行展示,同時提供了掃描電鏡樣品前處理全套解決方案與透射電鏡樣品前處理全套解決方案。



            現(xiàn)場精彩
            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?
            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?



            設(shè)備展示

            01 


            徠卡Leica DVM6 超景深視頻顯微鏡

            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?


            產(chǎn)品介紹

            一款多功能視頻顯微鏡,可以用在檢測分析,質(zhì)量控制,失效分析,研發(fā)產(chǎn)品等領(lǐng)域的測量分析。集成的照明和復(fù)消色差物鏡確保了高品質(zhì)的圖像??捎肈VM6的支架傾斜功能來觀察樣品的側(cè)面信息,通過支架的±60°傾斜,可以對樣品進(jìn)行360°觀察;利用景深合成可對特征進(jìn)行3D尺寸的測量。顯微鏡的編碼功能使得測量結(jié)果很容易重現(xiàn),報告和文檔都可以一鍵生成。


            02 


            徠卡 Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀


            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?




            產(chǎn)品介紹

            可制備橫切面和拋光表面,用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。一次可處理樣品多達(dá) 3 個, 并可在同一個載物臺上進(jìn)行橫切和拋光。工作流程解決方案可安全、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)。


            03 


            徠卡Leica EM TXP 精研一體機(jī)

            第二十三屆中南六省電子顯微鏡學(xué)會交流會暨2024年廣西電鏡學(xué)會年會 ?



            產(chǎn)品介紹

            一款可對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確定位的表面處理工具,特別適合于SEM,TEM及LM觀察之前對樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品,如需要對目標(biāo)精細(xì)定位或需對肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了 Leica EM TXP,這些工作就可輕松完成。


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