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其他設備: 頗爾Pall 過濾與分離賓得測試箱 Hentec Industries 可焊性測試系統(tǒng) 飛馳Fritsch 球磨粉碎與粒度分析 Systech Illinois 微量氧微量水測試博勢Proceq巡鷹智檢便攜硬度及探傷 C&W 鹽霧箱阿朗Arun 直讀光譜儀小坂Kosaka 表面測量儀賽默飛世爾Thermo Fisher（FEI）掃描電鏡 TMI 軟包表面性能測試 Messmer Büchel 軟包強度測試 CMC-KUHNKE 金屬罐體檢測測試 Ray-Ran 高分子聚合物測試 Eagle Vision 包裝表面視覺檢測 TM Electronics 檢漏儀

金相切片耗材: 砂紙金剛石磨盤金剛石拋光液

LEICA EM TXP是一款的可對目標區(qū)域進行準確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標精細定位或需對肉眼難以觀察的微小目標進行定點處理。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。

與觀察體系合為一體

在顯微鏡下觀察整個樣品處理過程和目標區(qū)域將樣品固定在樣品懸臂上，在樣品處理過程中，通過立體顯微鏡可對樣品進行實時觀察，觀察角度0°至60°可調，或者調至 -30°，則可通過目鏡標尺進行距離測量。Leica EMTXP 還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得視覺觀察效果。
> 對微小目標區(qū)域進行精確定位和樣品制備
> 通過立體顯微鏡實現(xiàn)原位觀察
> 多功能化機械處理
> 自動化樣品處理過程控制
> 可獲得平如鏡面的拋光效果

> LED 環(huán)形光源亮度可調，4分割區(qū)段可選

為微尺度制樣而生

對毫米和微米尺度的微小目標進行定位、切割、研磨、拋光是一項具有挑戰(zhàn)性的工作，主要困難來自：
> 目標太小，不容易觀察
> 精確目標定位，或對目標進行角度校準很困難
> 研磨、拋光到目標位置常需花費大量人力和時間
> 微小目標極易丟失

> 樣品尺寸小，難以操作，往往不得不鑲嵌包埋

一體化顯微觀察及成像系統(tǒng)

Leica M80 立體顯微鏡
> 平行光路設計：通過主物鏡形成平行光路，焦平面一致
> 高倍分辨率：所有變倍比下都有優(yōu)質的圖像質量和穩(wěn)定的光強
> 人體工學設計：使用舒服的舒適度，無肌肉緊張感和疲勞感
Leica IC80 HD 高清攝像頭*
> 無縫設計：安裝在光學頭和雙目筒之間，無需添加顯像管或光電管
> 高品質圖像：與顯微鏡共軸光路確保圖像質量及獲得無反光圖像
> 提供動態(tài)高清圖像，連接或斷開計算機均可使用
4 分割區(qū)段亮度可調 LED 環(huán)形光源

> 不同角度照明顯露樣品微小細節(jié)

多種方式制備處理樣品

樣品無需轉移，只需切換工具
不需要來回轉移樣品，只需要簡單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過程，并且樣品處理全過程都可通過顯微鏡進行實時觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€透明的安全罩，可避免在樣品處理過程中操作者不小心觸碰到運轉部件，又可防止碎屑飛濺。
LEICA EM TXP可對樣品進行如下處理：
> 銑削
> 切割
> 研磨
> 拋光
> 沖鉆

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