目錄:聯(lián)合光科技（北京）有限公司>>測(cè)量?jī)x器>>光學(xué)器件性能檢測(cè)儀器>> 750179高精度低相位干涉儀
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更新時(shí)間：2024-04-02 10:20:26瀏覽次數(shù)：164評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
測(cè)量拋光光學(xué)表面的面型和透射波前
自動(dòng)光強(qiáng)調(diào)節(jié)與FlexFlatTM傳輸平臺(tái)相結(jié)合，減少了操作人員在測(cè)量時(shí)的干預(yù)
無(wú)需反復(fù)測(cè)量，無(wú)需掃描測(cè)試位置
與其他基于激光的Fizeau干涉儀不同，OptoFlat集成了長(zhǎng)壽命的LED光源
內(nèi)置專有的PurePhaseTM方法提升了在不穩(wěn)定的振動(dòng)環(huán)境中的干涉相位測(cè)量
校準(zhǔn)過(guò)的低畸變1X和4X光學(xué)放大倍率的比例尺準(zhǔn)確的測(cè)試面積尺寸，可自動(dòng)標(biāo)記或用戶定義有效通光孔徑，便于判定測(cè)試合格/不合格
簡(jiǎn)單易用的測(cè)試軟件界面便于光學(xué)原件的批量測(cè)試，使任何人只要稍加培訓(xùn)就可以輕松測(cè)試多樣的光學(xué)原件，專業(yè)的樣品承載臺(tái)可快速批量測(cè)試每個(gè)零件。非接觸式傳感器開(kāi)始測(cè)量并能快速分析判斷產(chǎn)品合格/不合格
設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔，占地小，沒(méi)有雜亂的電纜，只有交流電源和USB電纜到電腦
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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