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            離子遷移測試儀的測試方法

            閱讀:2438      發(fā)布時間:2021-6-28
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              離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。離子遷移測試儀是評價電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法,將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中,并在相鄰的兩個絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓(偏置電壓),在長時間的測試條件下,檢測兩個網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,施加偏置電壓,然后每隔一段時間,將PCB從環(huán)境試驗箱中取出,進(jìn)行絕緣電阻測試,這是一種間斷式的測試方法。

              有效的離子遷移測試,需要將測試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,引出至環(huán)境試驗箱外的有關(guān)測試設(shè)備上,在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測試,同時能實時檢測測試樣品上的泄漏電流。

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