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            光學(xué)干涉儀有哪些組成部分?

            閱讀:2933      發(fā)布時(shí)間:2023-11-15
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            多個(gè)波疊加時(shí),每一波相位波加強(qiáng)的部分中相互匹配,其中,通過利用破壞性在相位反轉(zhuǎn)的部分,波長(zhǎng)(頻率)和測(cè)量相位差的技術(shù)。利用此原理的設(shè)備主要稱為干涉儀。

            光學(xué)干涉儀是一種利用光的干涉現(xiàn)象來測(cè)量長(zhǎng)度、厚度、折射率等物理量的儀器。它的工作原理是利用光的波動(dòng)性和干涉現(xiàn)象,通過比較光程差來測(cè)量被測(cè)量體的長(zhǎng)度或厚度等物理量。

            光學(xué)干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調(diào)節(jié)器和檢測(cè)器。在工作時(shí),光源發(fā)出的光線經(jīng)過分束器分成兩束光線,經(jīng)反射鏡反射后再匯合。當(dāng)兩束光線匯合后,由于光的波動(dòng)性,它們會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象,形成干涉圖樣,通過觀察干涉條紋的形態(tài)和移動(dòng)情況,可以計(jì)算出被測(cè)物體的長(zhǎng)度或厚度等物理量。

            光學(xué)干涉儀的應(yīng)用非常廣泛,比如在工業(yè)生產(chǎn)中用于測(cè)量機(jī)械零件的長(zhǎng)度和厚度、在材料研究中用于測(cè)量材料的折射率和厚度、在生物醫(yī)學(xué)中用于測(cè)量細(xì)胞和組織的長(zhǎng)度和厚度等等。
             

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