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            廣東天瑞儀器有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第8年

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            鍍層測(cè)厚儀器
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            X熒光光譜儀XRF技術(shù)原理與工作流程

            時(shí)間:2024/4/16閱讀:940
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               X熒光光譜儀XRF 是一種用于元素分析的儀器,可以檢測(cè)樣品中的元素種類和含量。

               
                一、技術(shù)原理
                X熒光光譜儀XRF 基于X射線熒光的原理。當(dāng)樣品受到高能X射線照射時(shí),樣品中的原子會(huì)被激發(fā)并發(fā)射出二次X射線,這種現(xiàn)象稱為X射線熒光。每種元素的原子都有熒光發(fā)射譜線,因此可以通過測(cè)量這些譜線的強(qiáng)度來確定樣品中元素的種類和含量。
               
                二、工作流程
                1.樣品準(zhǔn)備:將樣品置于樣品臺(tái)上,確保樣品表面平整并與探測(cè)器相對(duì)。
               
                2.激發(fā)源產(chǎn)生:光譜儀中的X射線管產(chǎn)生高能X射線,照射到樣品上。
               
                3.熒光發(fā)射:樣品中的原子吸收X射線能量后,被激發(fā)到高能級(jí)。當(dāng)原子退回到低能級(jí)時(shí),會(huì)發(fā)射出具有特定波長(zhǎng)的熒光X射線。
               
                4.信號(hào)檢測(cè):探測(cè)器接收樣品發(fā)射的熒光X射線,將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。
               
                5.數(shù)據(jù)處理:將探測(cè)器收集到的電信號(hào)進(jìn)行放大、數(shù)模轉(zhuǎn)換等處理,得到樣品中各元素的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。
               
                6.結(jié)果分析:根據(jù)各元素的熒光強(qiáng)度,通過預(yù)先建立的標(biāo)準(zhǔn)曲線或校準(zhǔn)模型,計(jì)算出樣品中各元素的含量。

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                三、特點(diǎn)
                1.分析速度快:可以在幾分鐘內(nèi)同時(shí)分析樣品中的多種元素。
               
                2.分析范圍廣:可以分析從Na到U的大部分元素。
               
                3.靈敏度高:可以檢測(cè)到ppm級(jí)的元素含量。
               
                4.非破壞性:對(duì)樣品無損傷,適合于珍貴文物、藝術(shù)品等樣品的分析。
               
                X熒光光譜儀XRF 是一種重要的元素分析儀器,它基于X射線熒光的原理,通過一系列工作流程,可以快速、地分析樣品中的元素種類和含量。


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