儀器介紹國產X熒光多元素分析儀

X熒光多元素分析儀具有合金測試、合號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
同時檢測樣品包括從鈉鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
X熒光多元素分析儀（EDX3600H）是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型，具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
天瑞儀器公司是全球生產高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、X熒光多元素分析儀EDX3600H,融匯全球*的合金分析技術，配備合金測試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到水平
針對合金的測試而開發(fā)的配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置了儀器工作的*性；
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

技術指標

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

硬件國產X熒光多元素分析儀

主機壹臺，含下列主要部件：
(1)X光管  Rh靶材                      (2)SDD電制冷半導體探測器
(3)放大電路和數字多道分析器             (4)高壓電源系統(tǒng)
(5)高清晰攝像頭                         (6)自動切換準直器
(7)自動切換濾光片                       (8)準直器和濾光片自由組合
(9)可抽真空樣品腔及真空泵               (10)嵌入式液晶屏90mm×70mm

軟件

天瑞X熒光光譜儀成分分析軟件V2.0
計算機、打印機各一臺
資料：儀器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。

標準附件

(準直孔：包括Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф4.0mm、Ф3.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個，共8個（已內置于儀器中）；
濾光片：5種組合（已內置于儀器中）；
標準樣品（歐盟標樣）：0＃標樣、塑膠標樣各一片、銀校正片一片。

技術指標

分析元素范圍：Na-U
測量精度：0.05%（含量大于96%的樣品）
元素測量范圍：PPM級-99.99%
高壓：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
能量分辨率：145±5eV
RoHS指令有害元素檢測限Cd/Pb/Cr/Hg/Br達2ppm（因基體不同檢出限可能存在一定差異）。
測量時間：60s-300s
計數率：計數率可高100000cps

環(huán)境要求

環(huán)境溫度要求
15℃-30℃
環(huán)境相對濕度：<70%
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾。

標準配置

合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的*SDD探測器
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

產品用途

X熒光多元素分析儀是天瑞儀器自主研發(fā)生產的儀器，主要應用于合金元素檢測、ROHS檢測、礦石元素分析、爐渣分析、土壤分析、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產品。