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 天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀 分析原理
ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：Q=kE式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

 天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀 技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%RoHS指令規(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢測(cè)限達(dá)1PPM；測(cè)量時(shí)間：60-200秒溫度適應(yīng)范圍為15℃30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）三維自由度超大的樣品腔設(shè)計(jì)，樣品腔尺寸：Φ450 x 90 mm一次可同時(shí)分析24個(gè)元素重量：110 kg
EDX1800B檢測(cè)儀性能
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷自動(dòng)濾光片選擇多種準(zhǔn)直器自動(dòng)自由切換三重安全保護(hù)模式相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動(dòng)開(kāi)關(guān)軟件定位樣品平臺(tái)，小位移 0.01 mm自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣品特別開(kāi)發(fā)。