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            • 型號(hào) leeb232
            • 品牌 其他品牌
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 北京市

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            更新時(shí)間:2019-06-26 21:33:47瀏覽次數(shù):539

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            價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,汽車及零部件
            涂層測(cè)厚儀leeb232 leeb232
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            詳細(xì)介紹

            涂層測(cè)厚儀leeb232

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            京海興樂(lè)科技(北京)有限公司提供探傷儀(奧林巴斯/汕超/美國(guó)GE/達(dá)高特/中科漢威/友聯(lián)/聲納/)配件:相控陣探頭,直探頭,斜探頭,連接線,探頭線,保護(hù)膜,試塊,耦合劑,雙晶探頭,表面波探頭,小徑管探頭,小角度探頭,水浸探頭,非金屬探頭,可拆式探頭,可變角度探頭,窄脈沖探頭、測(cè)厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT;磁粉探傷-MT;滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。

            【主要功能

            采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

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            ● 數(shù)據(jù)刪除功能;

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            ● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式

            ● 兩種測(cè)量方式;

            ● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值;

            ● 可設(shè)置界限;

             

            【技術(shù)參數(shù)

             

            項(xiàng)目名稱

            Leeb232

            測(cè)頭類型

            F1和N1

            測(cè)量原理

            磁感應(yīng)和電渦流

            測(cè)量范圍

            ~ 1250um

            分辨率

            0.1um

            示值誤差

            一點(diǎn)校準(zhǔn)

            ±(3%H+1)um

            二點(diǎn)校準(zhǔn)

            ±[(1~3)%H+1]um

            測(cè)試條件

            小曲率半徑

            凸1.5mm  凹9mm

            小面積直徑

            φ7mm

            基本臨界厚度

            0.5mm

            工作環(huán)境

            溫度

            ~ 40

            濕度

            20% ~ 90%

            電源

            AA堿性電池2節(jié)

            電壓

            3V

            工作時(shí)間

            100小時(shí)

            外形尺寸

            130*70*25 mm

            重量

            350g

            外殼材質(zhì)

            金屬外殼

            標(biāo)準(zhǔn)配置

            主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、F1和N1探頭、堿性電池

            可選配件

            標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭

            PC通訊

             

             

            儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)

            探頭

            F400

            F1

            F1/90

            F10

            N400

            N1

            CN02

            測(cè)量原理

            磁性

            渦流

             

            測(cè)量范圍(μm)

            0~400

            0~1250

            0~10mm

            0~400

            0~12500

            10~200

            測(cè)量精度μm

            一點(diǎn)校準(zhǔn)

            ±[(1~3)%H+0.7]

            ±(3%H+1)

            ±(3%H+10)

            ±(3%H+1)

            ±(3%H+1.5)

            H+1)

            二點(diǎn)校準(zhǔn)

            ±(1~3%H+0.7)

            H+1]

            ±[(1~3)%H+10]

            ±[(1~3)%H+1]

            ±[(1~3)%H+1.5]

            ---

            低限分辨率

            0.1

            0.1

            1

            0.1

            0.1

            1

            小曲率半徑(mm)

            (凸)1

            1.5

            平直

            10

            1.5

            3

            僅為平面

            小面積直徑(mm)

            ¢3

            ¢7

            ¢40

            ¢4

            ¢5

            ¢7

            基本臨界厚度(mm)

            0.2

            0.5

            2

            0.3

            0.3

            無(wú)限制

                         

             

            測(cè)頭選用參考表

            覆蓋層基體

            有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

            非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

            覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

            覆蓋層厚度超過(guò)100μm

            覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

            覆蓋層厚度超過(guò)100μm

            如鐵、鋼等磁性金屬

            被測(cè)面積直徑大于30mm

            F400型測(cè)頭0~400μm 
            F1型測(cè)頭

            0~1250μm

            F1型測(cè)頭
            0~1250μm 
            F10型測(cè)頭

            0~10μm

            F400型測(cè)頭0~400μm 
            F1型測(cè)頭

            0~1250μm

            F1型測(cè)頭
            0~1250μm 
            F10型測(cè)頭

            0~10μm

            被測(cè)面積直徑小于30mm

            F400型測(cè)頭0~400μm

            F400型測(cè)頭0~400μm 
            F1型測(cè)頭

            0~1250μm

            F400型測(cè)頭0~400μm

            F400型測(cè)頭0~400μm 
            F1型測(cè)頭

            0~1250μm

            如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

            被測(cè)面積直徑大于10mm

            N1型測(cè)頭0~1250μm
            N400測(cè)頭0~400μm

            僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm

            被測(cè)面積直徑大于10mm

            N400測(cè)頭0~400μm

            N400測(cè)頭0~40μm

            塑料、印刷線路非金屬基體

            被測(cè)面積直徑大于7mm

            --

            --

            CN02型測(cè)頭10~200μm

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