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            京海興樂科技(北京)有限公司>>無損探傷系列>>超聲探頭>>B1S(57744)保護膜探頭

            B1S(57744)保護膜探頭

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            • 廠商性質 代理商
            • 所在地 北京市

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            更新時間:2020-08-26 14:02:19瀏覽次數:1252

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            產品簡介

            產地類別 進口 價格區(qū)間 面議
            應用領域 鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件    
            B1S(57744)保護膜探頭
            應用
            用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
            鍛件、鑄件
            金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
            板材、棒材、方形材
            容器、機器零件、殼體

            詳細介紹

            B1S(57744)保護膜探頭
            應用
            用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
            鍛件、鑄件
            金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
            板材、棒材、方形材
            容器、機器零件、殼體

            類型

            訂購號碼

            D

            f

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            B1S

            57744

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            1

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            B1S-EN

            500035

            24

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            1

            23

            0.9

            符合 DIN EN 12668-2

            B1S-O

            57755

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            1

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            頂端接口

            B2S

            57745

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            B2S-EN

            500036

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            2

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            1.8

            符合 DIN EN 12668-2

            B2S-O

            57756

            24

            0.94

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            1.8

            頂端接口

            B2S-O-EN

            500267

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            0.94

            2

            45

            1.8

            符合 DIN EN 12668-2

            頂端接口

            B4S

            57746

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            3.5

             

            B4S-EN

            500037

            24

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            4

            88

            3.5

            符合 DIN EN 12668-2

            B4S-O

            57757

            24

            0.94

            4

            88

            3.5

            頂端接口

            B4S-O-EN

            500268

            24

            0.94

            4

            88

            3.5

            符合 DIN EN 12668-2

            頂端接口

            B5S

            57747

            24

            0.94

            5

            110

            4.3

             

            直探頭:
            B1S,B2S,B4S,MB2S,MB4S,MB5S,K1G,K2G,K4G,K1N,K2N,K4N,K5N,K5K,K10K,G1N,G2N,G4N,G2KB,G5KB,G5K,G10K,
            B1F,B2F,B4F,B5F,MB2F,MB4F,MB5F,MB10F, 

            應用

            用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

            鍛件、鑄件

            金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

            板材、棒材、方形材

            容器、機器零件、殼體

            特點

            縱波單晶探頭

            適合DGS缺陷評判

            性能參數誤差小,適合高精度檢測

            可更換保護膜,保護探頭不被磨損

            柔性保護膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

            合金壓鑄殼體,堅固耐用

            用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產品)

             


            022-508-909 測厚儀(英文版) CL 5 (English)
            022-509-102 測厚儀(中文版) CL 5 (Chinese)
            GEIT1480176 超聲波探傷儀 USM GO+ base
            GEIT1480179  超聲波探傷儀 USM Go+ AWS DAC
            GEIT1480181 超聲波探傷儀 USM Go+ AWS DGS
            GEIT1480180 超聲波探傷儀 USM GO+ ADVANCE
            083-500-495 測厚探頭 DA501 EN
            083-500-502 測厚探頭 DA503 EN
            113-552-013 測厚探頭 DA512
            118-140-054 探頭線 KBA-533
            113-534-761 測厚探頭 DA590EN
            113-534-769 測厚探頭 DA590
            118-140-120 探頭線 KBA-DA590
            118-140-123 探頭線 KBAMJ-DA590
            113-527-660 測厚探頭 ALPHA-2 DFR
            113-518-655 測厚探頭 Mini-DFR
            113-526-000  測厚探頭 ALPHA-2F
            113-118-661 測厚探頭 ALPHA DFR-P
            113-544-000 測厚探頭 CA211A
            389-030-290 測厚探頭 K-pen
            022-505-604 探頭線 C-604
            0058160 探頭線 CL 331 
             

            接觸法探頭

            接觸法直探頭, 保護膜

            應用

            •   一般檢測目的, 簡單形狀的大零件

            •   鍛件, 鑄件

            •   板材, 棒材, 方型材

            •   容器, 機器零件, 殼體

            •   高溫檢測時帶延遲塊

            性能特征

            •   歐款有可更換膜:

            - 在不平整和曲面上增進耦合

            - 延長探頭壽命

            - 適于DGS缺陷評定

            - 可連接高溫延遲塊

            - Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標準為側裝, 頂裝可選

            •   美款有三種類型的保護:

            - 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.

            - 耐磨帽定期更換可*延長探頭壽命

            - 高溫延遲塊可以實現  00°F (  00°C)表面檢測.

            - BNC 連接端口, 頂裝或側裝

            帶保護膜探頭—歐洲規(guī)格

            B..S 和 MB..S 型

            0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜歐規(guī)接觸法直探頭

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