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SW-6530 超聲波測厚儀
超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

SW-6530 超聲波測厚儀

超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

項目

顯示方式測量范圍

主要功能分辨率0.1mm/0.01mm/0.01in三種分辨率

±(0.5%H±0.04)mm:H為被測物實際厚度

4500組

電源

1800mA鋰電池直充

公制mm/英制in-30~70℃≤90%RH

-20~50℃≤90%RH

206*80*36.5mm