X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)，其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和功能，可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。

帕納科X射線熒光光譜儀Zetium 包含了 SumXcore 技術(shù)，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛懈叻治瞿芰Α⑺俣群腿蝿?wù)靈活性。 

Zetium X射線熒光光譜儀 配備了 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst），可幫助非專家用戶輕松地設(shè)置應(yīng)用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊，例如無標(biāo)分析、地質(zhì)痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析。

針對特定行業(yè)提供了 Zetium XRF 光譜儀行業(yè)專用版：水泥、礦物、金屬、石化產(chǎn)品以及聚合物和塑料。另外提供可滿足各行業(yè)嚴(yán)苛要求的高配置版本：Zetium頂級版。 Zetium 平臺的模塊化設(shè)計(jì)允許通過各種軟件包來實(shí)現(xiàn)以任務(wù)為導(dǎo)向的性能增強(qiáng)。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案；從連接樣品制備裝置的簡單接口，到將多個(gè)分析儀器集成到單一容器實(shí)驗(yàn)室中的全自動(dòng)項(xiàng)目。

帕納科X射線熒光光譜儀Zetium 特點(diǎn)
增強(qiáng)的分析性能

•從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可增強(qiáng)靈敏度

•一系列 X 射線光管陽極材料（銠、鉻、鉬和金）可確保發(fā)揮特定應(yīng)用性能

•用于增強(qiáng)靈敏度和加大過渡金屬分析動(dòng)態(tài)范圍的復(fù)合探測器

•用于擴(kuò)大的重元素動(dòng)態(tài)范圍（線性高達(dá) 3.5 Mcps）的 HiPer 閃爍探測器特別適合對鋼中的鈮和鉬進(jìn)行高精度分析

出色的用戶體驗(yàn)

•Virtual Analyst 提供簡潔、直觀的軟件

•整套應(yīng)用程序設(shè)置模塊和軟件解決方案

•使用無標(biāo) XRF 分析，對未知材料進(jìn)行分析，或者在沒有標(biāo)準(zhǔn)的情況下進(jìn)行分析

•多元素微小區(qū)域分析

•可編程的面罩，適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm

提升樣品處理量

•SumXcore 技術(shù) - 利用 ED core（能譜核）將測量時(shí)間縮短多達(dá) 50%

•從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可加快分析速度

•Hi-Per 通道可實(shí)現(xiàn)對輕元素的同步測量

•連續(xù)和直接進(jìn)樣可大大縮短儀器的進(jìn)樣時(shí)間

•高容量進(jìn)樣器臺（最多 209 位）可滿足高處理量應(yīng)用需求

•進(jìn)樣器條形碼閱讀器選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)快速

可靠性

•除塵設(shè)備可盡量減少污染，并能夠大大提升儀器的正常運(yùn)行時(shí)間

•用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層

•樣品類型識別（固體和液體）

•條形碼閱讀器可實(shí)現(xiàn)無差錯(cuò)的樣品數(shù)據(jù)錄入

 儀器的擁有成本低

•節(jié)省空間的緊湊型設(shè)計(jì)

•小體積空氣鎖設(shè)計(jì) - 用于將樣品快速循環(huán)到真空中，或?qū)σ后w分析實(shí)現(xiàn)低氦氣消耗

•便于檢修的服務(wù)模塊意味著更高的儀器可維修性和更短的停機(jī)時(shí)間

•專用制冷機(jī)可從實(shí)驗(yàn)室?guī)ё邿崃?- 避免實(shí)驗(yàn)室空調(diào)基礎(chǔ)設(shè)施負(fù)荷過重

•可節(jié)省成本的成套解決方案