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            上海斯邁歐分析儀器有限公司>>X射線分析儀 XRD>>日本理學X射線衍射儀XRD>>SmartLab SE日本理學智能X射線衍射儀

            日本理學智能X射線衍射儀

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            • 日本理學智能X射線衍射儀

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            參考價1000000-3000000/件
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 型號

              SmartLab SE
            • 品牌

              其他品牌
            • 廠商性質(zhì)

              經(jīng)銷商
            • 所在地

              上海市

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            更新時間:2024-12-24 11:40:37瀏覽次數(shù):4803

            聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

            產(chǎn)品簡介

            價格區(qū)間 100萬-150萬 儀器種類 多晶衍射儀
            應用領(lǐng)域 綜合    
            儀器種類:
            多晶衍射儀
            產(chǎn)地類別:
            進口
            發(fā)生器功率:
            3KW
            最小步進角度:
            最小步徑0.0001度
            重復性:
            優(yōu)于0.0001
            角度偏差:
            不超過±0.01

            詳細介紹

            日本理學智能X射線衍射儀SmartLab SE技術(shù)參數(shù)

            1、X射線發(fā)生器功率為3KW

            2、測角儀為水平測角儀

            3、角儀半徑300mm

            4、測角儀配程序式可變狹縫

            5、最小步徑0.0001度

            6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)

            7、高速探測器D/teX Ultra250(0維,1維模式)

            8、半導體陣列2維探測器HyPix400(0維、1維、2維模式)

            7、載從控制測量到分析結(jié)果的SmartLab Studio II軟件包

            8、視頻觀察系統(tǒng)

            9、豐富的各種附件


            日本理學智能X射線衍射儀SmartLab SE主要特點

            1、SmartLab家族中的最新成員SmartLab SE。

            2、使用SmartLab Studio II軟件,可以一鍵式得到從選擇條件、測量、到分析、結(jié)果報告的所有結(jié)果,不需要任何經(jīng)驗,就可以得到高質(zhì)量的分析結(jié)果。

            3、智能X射線衍射儀SmartLabSE系列,可以廣泛應用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。

            4、可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料

            5、可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品


            主要的應用有:

            1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

            2. 計算結(jié)晶化度、晶粒大小

            3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

            4. Rietveld定量分析

            5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度

            6.小角散射與納米材料粒徑分布

            7. 微區(qū)樣品的分析


            儀器介紹

            智能X射線衍射儀SmartLab SE系列,是當今高性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學的CBO交叉光學系統(tǒng)、智能的測量分析SmartLab Studio II軟件,一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導體、薄膜樣品測試。


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