隨著掃描探針顯微鏡（SPM）在二十世紀(jì)八十年代的出現(xiàn)，大氣環(huán)境中的納米尺度成像成為了可能。該技術(shù)使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續(xù)的發(fā)展，然而如何實現(xiàn)納米尺度的的化學(xué)結(jié)構(gòu)表征仍是一項挑戰(zhàn)。

拉曼光譜為分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)組分分析提供了有效的解決方案，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學(xué)衍射限。

因此，將這兩種技術(shù)結(jié)合是富吸引力和挑戰(zhàn)性的，我們進入納米光學(xué)的世界。在該領(lǐng)域，HORIBA Scientific 通過幾十年的經(jīng)驗積累和努力，開發(fā)了一套 HORIBA NANO Raman 的整體解決方案，使其成為一個通用且功能強大、使用簡便、快速可靠的分析工具。

HORIBA拉曼光譜儀 Raman

1重要特征

1多種樣品分析平臺高分辨樣品掃描器，掃描樣品面積從納米尺寸至樣品臺限

2簡便易操作

全自動操作，大縮短了測試時間

3真共聚焦

高空間分辨率，自動成像平臺，多種顯微鏡可視觀察系統(tǒng)

4高靈敏度

多只有三面反射鏡，靈敏度和光通量得到大提高，提高設(shè)備穩(wěn)定性

5高光譜分辨率

多光柵自動切換，寬的光譜范圍用于拉曼和 PL 測試

6納米尺度空間分辨率

通過針尖增加拉曼光譜 (TERS) 成像，實現(xiàn) 10nm 的空間分辨率

7多種測試模式 / 多種環(huán)境

多種 SPM 模式，包括 AFM、導(dǎo)電 AFM、開爾文、STM 模式，可以子在液體和電化學(xué)環(huán)境下測試，通過 TERS 和 TEPL 技術(shù)，可同時獲得化學(xué)信息成像通過一臺電腦即可控制及使所有功能。另外，SPM和光譜儀也可以單獨控制使用

8穩(wěn)定性

采用新一代 50 KHz 高頻調(diào)制 SPM 掃描器，遠離生活噪聲，具有高信噪比和穩(wěn)定性

9靈活性

具有頂部、底部、側(cè)向等多個方向拉曼探測能力，滿足各方面應(yīng)用研究需求

2強有力的的物理、化學(xué)結(jié)構(gòu)表征工具

1功強大

· 可同時進行 SPM 和拉曼光譜測試

· 頂部和側(cè)向均可使用高數(shù)值孔徑 ×100 物鏡，使得同區(qū)域測量能獲得更高的空間分辨率，針尖增強拉曼 (TERS) 具有高的信號收集效率

· 通過 SWIFT XS 和 EMCCD 探測器可以實現(xiàn)高通量信號收集能力和快速掃描速度

· 寬光譜范圍：從深紫外到近紅外

· 可選配 HORIBA 拉曼光譜儀系統(tǒng)以獲得高光譜性能

2操作簡單、快速！

· 一鍵完成“懸臂梁 - 參考激光"對準(zhǔn)及調(diào)諧頻率優(yōu)化，無需手動調(diào)整

· 換針尖時無需移動樣品，換完針尖后還能很容易回到原來樣品位置

· 通過物鏡掃描器自動完成拉曼激光與 TERS 針尖耦合

· 通一臺電腦即可控制

3操作簡單的TERS系統(tǒng)