Olympus45MG測(cè)厚儀奧林巴斯金屬腐蝕壁厚儀高溫測(cè)厚

應(yīng)用

檢測(cè)金屬管道中的內(nèi)壁減少情況。

背景

局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過(guò)程中形成的初始階段可以產(chǎn)生壁減少。鋼中的印模可以通過(guò)成形輥產(chǎn)生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會(huì)引起剝落。剝落并從輥?zhàn)由厦撾x的金屬片可落入進(jìn)入板的路徑中，使得片件粘合到輥?zhàn)由?。一旦碎片與輥?zhàn)咏Y(jié)合，就會(huì)在被軋制的板材中開(kāi)始出現(xiàn)印痕。因此，由輥引起的印模的術(shù)語(yǔ)偽影看起來(lái)類似于由腐蝕引起的壁減少。

在許多情況下，新管道將投入使用此類工件。當(dāng)管道運(yùn)行后再進(jìn)行腐蝕檢查時(shí)，檢查人員可能會(huì)發(fā)現(xiàn)這些墻壁減少偽影并將其誤認(rèn)為是腐蝕單元。如果發(fā)生這種情況，工藝工程師可能會(huì)推斷出不正確的腐蝕速率并導(dǎo)致不正確的工藝變化和/或化學(xué)添加 然而，簡(jiǎn)單的超聲測(cè)量程序可以在制造或安裝階段識(shí)別偽影。

設(shè)備

型號(hào)38DLP PLUS厚度計(jì)，或帶波形顯示選件的45MG型應(yīng)變計(jì)，以及D790雙元件傳感器（5 MHz）。

例

下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250”壁碳鋼1018等級(jí)。深色凹痕是減少在管道形成過(guò)程中發(fā)生的壁厚的偽影。ID或OD上沒(méi)有腐蝕。

厚度測(cè)量以與腐蝕測(cè)量相同的方式進(jìn)行。在左圖中，量具讀取全壁厚度。在右圖中，較薄的讀數(shù)表示內(nèi)表面上的壁變薄偽影。

在試圖區(qū)分制造工件和腐蝕電池時(shí)，檢查員可能會(huì)考慮以下因素：

• 確定管道是ERW還是無(wú)縫管道。
• 確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機(jī)。
• 如果管道回路中的多個(gè)或所有接頭都是ERW，請(qǐng)確定每個(gè)接頭上的工件所在的線。檢查員可能會(huì)發(fā)現(xiàn)線路相對(duì)于管道改變方位角位置。
• 如果發(fā)現(xiàn)電路中的管道連接是無(wú)縫的并且沒(méi)有墻壁減少。

結(jié)論

可以通過(guò)超聲波厚度測(cè)量來(lái)檢測(cè)管道中的制造偽影。執(zhí)行管道厚度測(cè)量的檢查員應(yīng)了解這種損壞機(jī)制。向過(guò)程工廠質(zhì)量控制檢查員通知該潛在問(wèn)題以避免過(guò)高估計(jì)腐蝕速率也很重要。

對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測(cè)量

使用雙晶探頭

45MG測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中較常使用的是雙晶探頭。

• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能
• 當(dāng)校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)雙回波時(shí)，會(huì)發(fā)出雙回波警告
• 回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測(cè)量帶有漆層和涂層的表面
• 高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500 °C

B掃描成像（基于時(shí)間）

45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時(shí)，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)小值功能用于顯示掃查區(qū)域的小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數(shù)。

Olympus45MG測(cè)厚儀奧林巴斯金屬腐蝕壁厚儀高溫測(cè)厚

高溫表面

45MG測(cè)厚儀配上D932系列探頭（D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL），是測(cè)量高溫材料（溫度高達(dá)500 ºC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能，通過(guò)補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測(cè)量的精確性。

回波到回波回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)

測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：

自動(dòng)回波到回波

手動(dòng)回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），

可進(jìn)行以下操作：

增益調(diào)整

擴(kuò)展空白

回波空白

調(diào)整*個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式          顯示可選波形的穿透涂層模式

用于此應(yīng)用的產(chǎn)品

38DL PLUS

38DL PLUS是一款高級(jí)超聲測(cè)厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)部腐蝕的部件進(jìn)行檢測(cè)。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對(duì)薄材料、厚材料以及多層材料進(jìn)行非常精確的厚度測(cè)量。

45MG

手持式45MG是一款配置有各種測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的超聲測(cè)厚儀。這款*的儀器與所有Olympus雙晶和單晶探頭探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。

產(chǎn)品規(guī)格：

標(biāo)準(zhǔn)包裝

• 45MG數(shù)字超聲波測(cè)厚儀
• AA堿性電池
• 兩步試塊和耦合劑
• USB電纜
• CD上的用戶手冊(cè)
• 測(cè)量功能：小/大 模式，兩種報(bào)警模式，差分，模式，B掃描，降低率，可編程鎖定

軟件選項(xiàng)

• 45MG-SE（U8147022）：單元件選項(xiàng)，使用頻率范圍為2.25 MHz至30 MHz的單元件傳感器。
• 45MG-HP（U8147023）：單元件高穿透選項(xiàng)使用頻率范圍為0.5 MHz至30 MHz的單元件傳感器。
• 45MG-EETC（U8147021）： Echo-to-Echo和THRU-COAT®
• 45MG-WF（U8147019）：波形選項(xiàng)
• 45MG-DL（U8147020）：內(nèi)部數(shù)據(jù)記錄器，包括GageView接口程序

可選配件

• MICROSSD-ADP-2GB（U8779307）： 2 GB外部microSD存儲(chǔ)卡
• 45MG-RPC（U8779 676）：帶支架的橡膠保護(hù)套

Panametrics-NDT Microscan傳感器經(jīng)常與25系列和35系列厚度計(jì)以及其他市售厚度計(jì)，探傷儀和超聲波儀器一起使用。

Microscan傳感器部件號(hào)反映連接器的名稱： 
RM =直角Microdot®SM 
=直式微棒 
RB =直角BNC 
SB =直式BNC 
SU =直式UHF

選擇傳感器時(shí)，請(qǐng)查看下面的圖表或參考隨您的量具附帶的使用說(shuō)明書(shū)中的傳感器頻率范圍。

厚度計(jì)型號(hào)

傳感器頻率范圍

45MG 
38DL PLUS

2.0到30 MHz

接觸傳感器

Panametrics-NDT Microscan接觸式傳感器的優(yōu)勢(shì)之一是其多功能性; 單個(gè)換能器可以覆蓋許多工程材料的寬廣的厚度范圍。接觸式傳感器采用*的WC-5耐磨板構(gòu)造，具有更高的耐用性和更長(zhǎng)的使用壽命。

RM =直角微米; SM =直的微米; SB =直BNC 

SONOPEN®傳感器

Sonopen®傳感器具有一個(gè)可更換的延遲線，可以逐漸變細(xì)至較小的接觸面積。這種傳感器可以在諸如渦輪機(jī)葉片，塑料瓶頸上的螺紋以及塑料容器上的緊縮半徑等應(yīng)用中進(jìn)行可靠的厚度測(cè)量。高溫Sonopen延遲線也可用。

*使用高達(dá)350°F（175°C）的高溫延遲

延遲線傳感器

Panametrics-NDT Microscan延遲線傳感器可在薄的材料，高溫或需要高度厚度分辨率的應(yīng)用中提供出色的性能。

可更換的延遲線

標(biāo)準(zhǔn)延遲線

標(biāo)準(zhǔn)延遲線用于許多應(yīng)用中。諸如高表面溫度，材料曲率或難以接近區(qū)域的特殊條件可能需要使用特殊的延遲線。

*精確范圍取決于材料聲速，傳感器頻率，零件幾何形狀和表面狀況。

高溫延遲線

高溫延遲線用作測(cè)試片熱表面和傳感器晶體之間的保護(hù)性緩沖區(qū)。在溫度升高的情況下，建議間歇式接觸以保護(hù)傳感器免受熱損傷。