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            杭州譜育科技發(fā)展有限公司

            電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀測定硅鋁合金中硅等多種元素含量

            時(shí)間:2025-3-17 閱讀:151
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            鋁合金密度低,但強(qiáng)度比較高,塑性好,硅鋁合金材料能夠保持硅和鋁各自的優(yōu)異性能,提高硅含量可使合金材料的密度及熱膨脹系數(shù)顯著降低。硅鋁合金還與金、銀、銅、鎳的鍍覆性能好,與基材可焊,易于精密機(jī)加工等性能,是一種應(yīng)用前景廣闊的電子封裝材料, 特別是在航天航空、空間技術(shù)和便攜式電子器件等高技術(shù)領(lǐng)域。當(dāng)產(chǎn)品用在關(guān)鍵的核心部件時(shí),如果存在虛標(biāo)鋁合金中元素含量的情況,極易造成各種質(zhì)量問題,特別是用在航天航空中,會(huì)造成更大的質(zhì)量事故,而這些問題僅從外觀并無法作出正確判斷,所以必須重視鋁合金中各種合金元素含量的檢測。

            硅鋁合金材料由于硅含量較高,因而對這類材料進(jìn)行化學(xué)分析時(shí) 要格外注意溶樣和測定方式?,F(xiàn)行的標(biāo)準(zhǔn)中,測定方法種類較多。其中《鋁及鋁合金化學(xué)分析方法》(GB/T 20975.5-2020)中第5部分和第25部分分別采用了分光光度法、重量法以及電感耦合等離子發(fā)射光譜法(ICP-OES)對Si元素進(jìn)行測定。ICP-OES技術(shù)作為一種高精度、高靈敏度、高通量的元素分析技術(shù),已經(jīng)成為合金樣品中元素含量測定的主流方法之一。相比于傳統(tǒng)的元素分析技術(shù),ICP-OES技術(shù)具有更高的分析速度和精度,可以同時(shí)測定多種元素。因此在分析高硅鋁中硅元素,可以同時(shí)對其他元素含量進(jìn)行分析測定,從而大大提高了分析效率。

            本文參考鋁及鋁合金化學(xué)分析方法中堿溶法并結(jié)合EXPEC 6500D型ICP-OES對高硅鋁合金中的銅、鋅、鉛、鎘、鈹、鋇、鎳、鉻元素含量進(jìn)行測試,測試數(shù)據(jù)具有較好的平行性和準(zhǔn)確性,可以作高硅鋁合金的的測試分析方法。

            關(guān)鍵詞:合金;鋁合金;ICP-OES;堿溶;硅

            實(shí)驗(yàn)部分

            儀器

            表1 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

            譜育科技

            表2 電感耦合等離子發(fā)射光譜儀檢測參數(shù)

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            試劑及標(biāo)準(zhǔn)品

                  試劑:優(yōu)級純硝酸、優(yōu)級純鹽酸、氫氧化鈉(>99.9%);

                  純水:18.2 MΩ·cm去離子水;

                  標(biāo)準(zhǔn)溶液:Si、Cu、Mn、Cr、Cd、Fe、Mg、Zn、Ga、Pb、Ti、V、Be、P、Ni、W、Mo、Nb、Co、Ai單元素標(biāo)準(zhǔn)溶液,1000 μg/mL,國家有色金屬研究院。

            樣品前處理

                  準(zhǔn)確稱量樣品0.1 g置于聚四氟乙烯燒杯中,加入20ml 10% NaOH置于電熱板上加熱消解,待樣品消解后,依次加入10 ml 1:1 HCl、10 ml 1:1 HNO3,搖勻后定容至100 ml,待測。

            精密度測試

                  對ZBY5061的7個(gè)平行樣分別測試,其結(jié)果精密度 RSD%<1.5%,精密度較好,可以用于實(shí)際樣品分析。

            表5 樣品精密度數(shù)據(jù)(%)

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            準(zhǔn)確度測試

                  利用上述方法對ZBY5061 硅鋁樣品進(jìn)行測試,測定值與標(biāo)準(zhǔn)值對比,其絕對差值滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 20975.25-2020要求的再現(xiàn)性,表明測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

            表6 ZBY5061樣品測試結(jié)果及絕對偏差(單位:%)

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            結(jié)論

                  上述實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明, 采用標(biāo)準(zhǔn)配置EXPEC 6500D型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀測定硅鋁合金樣品中的元素含量,該方法對研究鋁合金材料的性能具有重要意義。測定結(jié)果表明:待測元素的方法檢出限為0.00001%~0.00082%,精密度<1.5%,精密度較好,其測定的絕對誤差滿足國標(biāo)GB/T 20975.25-2020要求再現(xiàn)性限。該方法快速、數(shù)據(jù)可靠性高,可以廣泛的應(yīng)用在硅鋁合金含量的檢測工作中。

            附錄

            設(shè)備與耗材方案

            一、EXPEC 6500D 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)樣系統(tǒng)配置詳情

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            二、試劑及標(biāo)準(zhǔn)品

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