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            首頁>>北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司>>視頻展示>>影像測量儀>>芯片引腳共面性測試儀PZ-430D操作展示品智創(chuàng)思

            芯片引腳共面性測試儀PZ-430D操作展示品智創(chuàng)思
            發(fā)布時間:2025-03-25 播放次數(shù)50次
            視頻簡介

            測量原理:

            通過線激光對芯片有焊錫球及的表面,或者IC上的引腳面進(jìn)行掃描,采集出三維點集數(shù)據(jù),并由軟件處理生成工件的3D圖形,通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球的最高點或者點,再用所有最高點或者點生成一個平面,并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。

             

            3.jpg

             

            儀器結(jié)構(gòu):

            設(shè)備采用固定龍門式XYZ三軸運(yùn)動結(jié)構(gòu),內(nèi)部主體框架為大理石,可以保證穩(wěn)定的力學(xué)結(jié)構(gòu)。托盤和被測工件可放在工作臺玻璃上,前后運(yùn)動至測量區(qū)域,線掃激光頭和視覺物鏡組合體可以沿著左右運(yùn)動掃描測量,并可以上下調(diào)焦以便適應(yīng)不同高度面的測量。

             

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