探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)打破了很多傳統(tǒng)原子力顯微鏡結(jié)構(gòu)上和測(cè)樣樣品上的局限性，是*先量產(chǎn)化商品化的，能實(shí)現(xiàn)樣品不動(dòng)，探針移動(dòng)掃描的原子力顯微鏡。打破以往原子力顯微鏡對(duì)測(cè)樣樣品尺寸、重量的局限性。在適用超大樣品測(cè)樣的同時(shí)，飛時(shí)曼也將樣品臺(tái)的可拓展性增強(qiáng)，實(shí)現(xiàn)便捷的多儀器聯(lián)用原位測(cè)樣。更可根據(jù)客戶需求，訂制化探頭掃描式原子力顯微鏡。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料與石墨烯材料的測(cè)樣研究中。