8
兩種照明物盡其用
您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光，也可以一次性配置為使用兩種光源。
進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。
進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質(zhì)薄片、聚合物薄膜或藥品。
在地質(zhì)研究等特殊應用中，兩種光都不可少。
當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關(guān)物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。
方解石厚片的單軸干涉圖，垂直于光軸
黑云母晶體薄片圓偏光雙軸干涉圖，對角位置。光軸位置清晰可辨
研究光學屬性
錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關(guān)研究材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數(shù)量、光軸角度和光學特性。
Leica DM4 P 非常適用于錐光法：
具有高放大倍率和高數(shù)值孔徑的無應力物鏡是該項應用Bi備條件。
使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的最高要求，從而獲取優(yōu)質(zhì)結(jié)果。
您的選擇：Leica DM4 P
借助編碼的功能性，可靈活適應各種任務，操作安全簡單，適用于學術(shù)研究、操作新手或多用戶環(huán)境
6 位編碼可調(diào)中物鏡轉(zhuǎn)盤
照明和對比度管理，獲得可再現(xiàn)結(jié)果
編碼錐光法，采用 1.6 倍放大倍率調(diào)節(jié)器
LED 照明狀態(tài)顯示
360° 旋轉(zhuǎn)臺，帶或不帶 45° 卡位裝置
無應力光學部件
偏振設備范圍廣泛
固定或可變補償器，符合 DIN 58879
