SmartScan-350/550 EMI是一款專門設計的電磁干擾掃描系統(tǒng): 電磁掃描分析儀利用電場和磁場探棒逐點探測無線通訊終端、集成電路、汽車電子、IC芯片及顯示器等器件和整機產(chǎn)品的電磁場，得到相應測試區(qū)域的電場、磁場的相對值和真實值，以分析電磁輻射干擾情況。
SmartScan-350/-550 EMI
電磁干擾智能掃描測試系統(tǒng)
SmartScan-350/550 EMI是一款專門設計的電磁干擾智能掃描系統(tǒng)
API的近場掃描解決方案是使用350mm或550mm 4軸機器手實現(xiàn)的，可以準確的控制探頭定位控制和高速的掃描，
電磁干擾智能掃描系統(tǒng)可以支持IEC 61976-3和以下核心功能的標準測試；
•廣泛的探頭選擇：
o 從低于50千赫到高于35千赫的電磁干擾測量
-低頻探頭組：50 kHz?50 MHz，探頭尺寸為2mm
-窄帶探頭：GSM（860 MHz，1950 MHz），WiFi（2400 MHz）等
-定制探頭
•集成相機拍攝DUT圖片
-在DUT圖片上定義了掃描點（或區(qū)域）
-較大的DUT的圖像拼接
-掃描結果自動顯示在DUT圖片上
•布局文件導入
-可以導入ODB文件，并且可以在布局層上定義掃描點
•靈活的掃描區(qū)域編輯器（SAE）模塊
-具有不同掃描分辨率的多個掃描區(qū)域
-點，線，矩形，任何形狀的掃描區(qū)域
•自動電子X-Y偏移校正
•觸摸傳感器檢測組件高度
•連續(xù)運行多個項目
•靈活的顯示選項
-3D，多層，剖切面，直方圖，將多個掃描結果合并到一個顯示器
•在MS Word或Excel中可自定義的報告生成
•Matlab支持
•向導，可幫助您逐步設置掃描條件
•可選的發(fā)射掃描技術包括
o現(xiàn)場計算
o相位測量
o近場到遠場轉換（具有相位測量選件）
o屏蔽效能評估（SEE）套件
型號 | ESD-350 | ESD-550 |
掃描儀圖片 |  |  |
款式 | 桌面式 | 獨立式 |
探頭定位 (1) | 350mm 4軸機械手 | 550mm 4軸機械手 |
Z向行程 | 150mm | 150mm |
大掃描區(qū)域 | 1500cm2 | 4150cm2 |
精度 | 100um | 100um |
重復性 | < 50um | < 50um |
占用空間 | 27" x 25" x 37" (WxDxH) | 59" x 33" x 72" (WxDxH) |
注意： (1) 其他尺寸的機械手聯(lián)系我們
頻率范圍組件
頻率限制 | 6 GHz | 18 GHz | 35+ GHz |
| 標準探頭組 (1): ? Hx-2mm (3.5 MHz to 10 GHz) ? Hx-5 (1 MHz to 4 GHz) ? d=4mm Hz (1 MHz to 4 GHz) | 標準探頭組 + ? Hx-1mm (5 MHz to 18 GHz) ? Ez-3mm (5 MHz to 18 GHz) ? d=2mm Hz (5 MHz to 10 GHz) | 標準探頭組+
18 GHz 探頭組 + ? Hx-0.1mm
(up to 40 GHz)
? Ez-HF
(up to 40 GHz) |
Amps
驅動
其他硬件 | 20 MHz ~ 6 GHz, Gain=16dB at 2 GHz (2) | Amps can be provided at additional costs. |
一個SA 模塊 (3) | 一個SA模塊 | 一個SAm |
EMI SW | EMI SW | EMI SW |
線纜和連接器 | 線纜和連接器 | 高頻線纜和連接器 |
| 標準的MEI掃描儀 | 18 GHz 可選組件 | 35 GHz 可選組件 |
（1）在常見的NF測量設置條件下–室溫下為100KHz RBW，從頻率響應和0dBm源的峰值外推低60dB的增益
通過50歐姆微帶線供電。請參閱探針表征報告文件以了解更多細節(jié)。
（2）兩個16dB（@ 2GHz）20MHz?6GHz放大器
（可根據(jù)要求提供其他放大器?？赡軙杖☆~外費用）
（3）SmartScan支持KeySight，Tek，R＆S或LeCroy的大多數(shù)頻譜分析儀
探頭
API設計，構建和表征內(nèi)部的每個探針（用于安裝非API構建的適配器可以提供探頭）。
寬帶，高靈敏度和高頻非常重要，
然而，抑制有害成分同樣重要。 API的探棒至少20dB
所需和不需要的組件之間的分離。
軟件亮點
掃描區(qū)域編輯器（SAE）
•通過集成的攝像頭-掃描區(qū)域直接在由相機。該軟件控制探頭移動到定義的掃描點
•靈活的掃描區(qū)域選擇-可以定義任何形狀和多個掃描區(qū)域以獲得效果掃描時間。每個定義的掃描區(qū)域的高度可以標定。
等距掃描
•在通過掃描高度分配從參考z高度固定距離掃描的情況下
•通過兩種方式從DUT組件高度進行恒定距離掃描
o使用觸摸傳感器–探頭接觸到DUT表面后，它將使用戶縮回確定高度，進行測量，然后移至下一個掃描點
o定義多個掃描區(qū)域并為每個掃描區(qū)域分配高度–用戶定義每個掃描區(qū)域的DUT表面上方所需的掃描高度。 DUT高度可以是使用觸摸傳感器一鍵獲得。距參考表面固定距離距DUT表面恒定距離不同形狀的多個掃描區(qū)域 歡迎咨詢湖南格雷柏電子科技有限公司 夏先生
