演示近場掃描測試-----SmartScan-350-EMI demo
2022/05/06
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傳輸線脈沖發(fā)生測試系統是一種*的Ⅳ曲線特性測量系統，設計成用來模擬ESD事件，并在高功率時域范圍內監(jiān)控器件（半導體，電路模塊等）的響應，能夠實現納秒級別ESD脈沖的產生、測量，能夠測量被測器件的ESD時域響應波形，能夠跟蹤測量記錄被測器件在TLP測試每個階段的直流特性。
設備原理：傳輸線脈沖發(fā)生器產生并發(fā)出一個矩形波脈沖，通過信號傳輸同軸線纜施加到被測半導體器件，示波器連接電壓和電流測量裝置來捕捉器件端的電壓和電流時域波形，再將測量到的數據傳回到系統測試軟件，實現數據的自動分析。
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