(1)絕緣電阻率
絕緣電阻率是絕緣材料的主要電氣參數(shù)之一，它等于規(guī)定條件下,單位長度、單位截面積的絕緣材料上所加的直流電壓與流過的穩(wěn)態(tài)直流電流之比。絕緣電阻率與所加電壓大小有關，還與溫度、濕度等因素密切相關，如溫度每下降10℃，絕緣電陽率一般增大約1.5~2倍。
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ZST-212 絕緣電阻測試儀
(2)介質損耗因數(shù)
介質損耗是指在外加電壓作用下絕緣介質中損耗的有功功率。在交流電壓作用下，除泄漏電流引起的損耗外，還有絕緣介質中極化過程隨著電壓極性的改變而重新向相反方向發(fā)展所造成的附加損耗。
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LDJD-A 介電常數(shù)及介質損耗測試儀
實驗證明，在規(guī)定的試驗條件下，介損因數(shù)與絕緣試品的形狀、尺寸等無關，而只與試品材料相關，因此該參數(shù)與絕緣電阻率一樣，是一個絕緣材料的本構電氣參數(shù)。
(3)介電強度
介電強度又稱介質強度或耐壓強度，是指絕緣介質在電場作用下不被擊穿所能承受的最大場強，它與絕緣介質的物態(tài)(氣體、液體還是固體)、環(huán)境溫度、大氣壓強、濕度等諸多因素有關，還與試驗電壓及作用方式有關。一般給出直流電壓作用下的介電強度，如標準空氣的介電強度為3kV/mm。
絕緣介質在電場作用下發(fā)生的介質電流劇增、絕緣性能喪失的現(xiàn)象，稱為介質擊穿。介質擊穿的情況有兩種，一種是外加電壓高于絕緣介質的承受能力，使性狀良好的介質發(fā)生擊穿;另一種是絕緣介質性狀劣化或損壞，在允許電壓作用下發(fā)生擊穿。前者只要設計選擇合理一般均可避免，后者則是不確定性事件，常常是發(fā)生電氣事故的直接原因。
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LDJC-100kV計算機控制電壓擊穿試驗儀
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