目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> 國(guó)產(chǎn)XRF光譜無(wú)損XU-100鍍層測(cè)試儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-04-28 16:16:41瀏覽次數(shù)：1519評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
EDX600XRF光譜無(wú)損鍍層測(cè)試儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位，滿(mǎn)足貴金屬的成分檢測(cè)的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。
國(guó)產(chǎn)XRF光譜無(wú)損XU-100鍍層測(cè)試儀性能優(yōu)勢(shì)
專(zhuān)業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)
智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線(xiàn)性回收程序
國(guó)產(chǎn)XRF光譜無(wú)損XU-100鍍層測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）
測(cè)量對(duì)象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：1ppm
分析含量一般為：1ppm到99.9%
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1%
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1%
外觀尺寸：430×380×355mm
樣品腔尺寸：306×260×78mm
重量：40kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
單樣品腔。
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
X光管
應(yīng)用領(lǐng)域
XRF光譜無(wú)損鍍層測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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