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蔡司三坐標(biāo)測量儀吸盤配件選購指南
閱讀：1381 發(fā)布時(shí)間：2019-5-15
蔡司三坐標(biāo)測量儀吸盤配件概述：新一代SPECTRUM讓接觸式掃描測量技術(shù)成為蔡司全系列測量設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)配置，三坐標(biāo)測量真正來到了“全掃描”的時(shí)代。SPECTRUM采用的掃描技術(shù)，可以獲得更全面的輪廓信息，相比單點(diǎn)觸發(fā)測量能夠獲得更高的可靠性和重復(fù)性，可以控制工件質(zhì)量及提高生產(chǎn)成本。
蔡司三坐標(biāo)測量儀吸盤配件，為滿足不同客戶的測量需求，新一代SPECTRUM專門為用戶量身定制，可以搭配三款不同的測頭：觸發(fā)式測頭、直接式掃描測頭及旋轉(zhuǎn)測頭。同時(shí)配備了蔡司*的RDS-CAA技術(shù)，僅需一次校準(zhǔn)，即可使用全部5184個(gè)角度位置，大大減少了探針校準(zhǔn)時(shí)間，滿足了市場上對于測量的更快生產(chǎn)力的需求。