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探針是專門設(shè)計的，以盡量減少或消除隨機散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機散射效應(yīng)和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計的，以盡量減少或消除隨機散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機散射效應(yīng)和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計的，以盡量減少或消除隨機散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機散射效應(yīng)和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。探針是專門設(shè)計的，以盡量減少或消除隨機散射效應(yīng)的發(fā)生，傳統(tǒng)上在實驗室儀器中使用積分球解決。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和消除隨機散射效應(yīng)和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD）制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量（QbD）統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤。