VIAVI MPOLX-MPO光損耗測(cè)試儀，microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量（QbD）制造。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng)，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實(shí)等過程分析技術(shù)（PAT）應(yīng)用的實(shí)時(shí)過程監(jiān)測(cè)。可變?yōu)V波器（LVF）技術(shù)，PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì)。

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VIAVI MPOLX-MPO光損耗測(cè)試儀                  VIAVI MPOLX-MPO光損耗測(cè)試儀

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使技術(shù)人員能夠?qū)y(cè)試和認(rèn)證效率提升到一個(gè)全新水平.像我們的所有第1層(基礎(chǔ))光纖認(rèn)證解決方案一樣，我們提供了同樣的本地和遠(yuǎn)程裝置，通過光源和功率計(jì)來執(zhí)行測(cè)試，實(shí)現(xiàn)全面的分析和控制.所有設(shè)備均配備3.5英寸彩色觸摸屏，并整合了母頭和公頭連接器檢測(cè)功能.允許一名技術(shù)人員從連接的任一端檢測(cè)端面和執(zhí)行測(cè)試，從而減少了在兩臺(tái)裝置之間的來回走動(dòng).

只需不到6秒的時(shí)間便可提供連接器全部12條光纖的全面測(cè)試結(jié)果同時(shí)可提供每條mpo光纖彩色編碼的通過/失敗測(cè)試結(jié)果、測(cè)試限制、光纖長(zhǎng)度、測(cè)試波長(zhǎng)、損耗值、裕量以及極性結(jié)果，從而可確?？焖俚墓ぷ髁鞒?