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            上海蘇霍電氣有限公司>>介質(zhì)損耗測(cè)試裝置>>變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀>>高壓測(cè)試介質(zhì)損耗測(cè)試儀

            介質(zhì)損耗測(cè)試儀

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            參考價(jià) 6600
            訂貨量 1
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號(hào) 高壓測(cè)試
            • 品牌 上海蘇霍
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 上海

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            更新時(shí)間:2025-01-17 15:35:10瀏覽次數(shù):4040

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            產(chǎn)品簡(jiǎn)介

            應(yīng)用領(lǐng)域 電子    
            介質(zhì)損耗測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成,由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差,并算出被測(cè)試品電容容值(CX)和介質(zhì)損耗(tgδ)。

            詳細(xì)介紹

            產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

              SHJS-A高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。介損測(cè)試儀淘汰了QSI高壓電橋,具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強(qiáng), 測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn),是我廠的第三代抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

            技術(shù)指標(biāo):

            1、試驗(yàn)環(huán)境溫度:10℃~30℃(LCD液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照)

            2、相對(duì)濕度:20%~80%

            3、供電電源:電壓:220V±10%,頻率50±1Hz

            4、外形尺寸:長(zhǎng)*寬*高=470mm*320mm*360mm

            5、重量:18kg

            6、輸出功率:1.5KVA

            7、顯示分辨率:3位、4位(內(nèi)部全是6位)

            8、測(cè)試方法:正接法、反接法、外接試驗(yàn)電壓法

            9、測(cè)量范圍:內(nèi)接試驗(yàn)電壓:

                   tgδ:99.9%

                    Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

                    10KV  Cx<60000 pF

                    5KV   Cx<80000 pF

                    2.5KV  Cx<0.3uF

                外接試驗(yàn)電壓:由外接試驗(yàn)變壓器輸出功率而定

            10、基本測(cè)量誤差:介質(zhì)損耗(tgδ):1%±0.09% 

                電容容量(Cx):1.5%±1pF

            11、分辨率: tgδ:0.01%   Cx :0.1pF

            介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理:

            儀器測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測(cè)試回路,如圖所示。

            標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成,由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差,并算出被測(cè)試品電容容值(CX)和介質(zhì)損耗(tgδ)。

            數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件,采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽,儀器外殼接地屏蔽;另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù),加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,使測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。

            產(chǎn)品別稱:

               智能介質(zhì)損耗測(cè)試儀、變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介損測(cè)試儀、抗干擾介損測(cè)試儀、全自動(dòng)介損測(cè)試儀、異頻介損測(cè)試儀、異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀、全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀、變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。 

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