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            北京新卓儀器有限公司>>技術(shù)文章>>表面輪廓儀如何用于測量動態(tài)MEMS設(shè)備?

            表面輪廓儀如何用于測量動態(tài)MEMS設(shè)備?

            閱讀:733        發(fā)布時間:2022-10-12
               表面輪廓儀是一款三維表面形貌測量設(shè)備,采用白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高、速度快、重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器性價比高,可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。
              表面輪廓儀測量具有非破壞性,測量速度快,準(zhǔn)確度高,測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒),尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面,不受樣品反射率、環(huán)境光的影響,測量簡單,樣品無需特殊處理。
              傳統(tǒng)意義上,表面輪廓儀被用來測量樣品的表面特性。但在測量過程中,所測量的樣品需保持在靜止的狀態(tài)下,如果樣品不穩(wěn)定或者處于運動狀態(tài)則會引起圖像混亂模糊、數(shù)據(jù)不完整或者數(shù)據(jù)丟失等現(xiàn)象。然而對于MEMS設(shè)備,需要確定該設(shè)備處于運動狀態(tài)時的形貌特征,了解和確定其在運動狀態(tài)下的功能和特征對研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)量控制至關(guān)重要,作為質(zhì)量檢驗,只有動態(tài)測量才可以真正模擬MEMS實際運行狀態(tài),從而達(dá)到正真的功能檢測。
              表面輪廓儀即可實現(xiàn)這一測量功能,運用動態(tài)測量模塊可以形成一個動態(tài)測量體系。一個頻閃的LED光源同步于MEMS設(shè)備的觸發(fā)信號,通過調(diào)整光源的頻閃頻率,其MEMS設(shè)備的運動被有效“靜止”。實現(xiàn)光學(xué)輪廓儀在動態(tài)設(shè)備上進(jìn)行測量。

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