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透射掃描電鏡檢測技術(shù)服務(wù)
閱讀：1424 發(fā)布時(shí)間：2019-12-18技術(shù)服務(wù)介紹
透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時(shí)的樣品需要處理得很薄。常用的方法：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品，通常是掛預(yù)處理過的銅網(wǎng)上進(jìn)行觀察。
掃描電鏡主要用二次電子觀察形貌，成像原理如圖所示。在掃描電鏡中，電子槍發(fā)射出來的電子束，經(jīng)三個(gè)電磁透鏡聚焦后，成直徑為幾個(gè)納米的電子束。末級透鏡上部的掃描線圈能使電子束在試樣表面上做光柵狀掃描。試樣在電子束作用下，激發(fā)出各種信號，信號的強(qiáng)度取決于試樣表面的形貌、受激區(qū)域的成分和晶體取向。設(shè)在試樣附近的探測器把激發(fā)出的電子信號接受下來，經(jīng)信號處理放大系統(tǒng)后，輸送到顯象管柵極以調(diào)制顯象管的亮度。由于顯象管中的電子束和鏡筒中的電子束是同步掃描的，顯象管上各點(diǎn)的亮度是由試樣上各點(diǎn)激發(fā)出的電子信號強(qiáng)度來調(diào)制的，即由試樣表面上任一點(diǎn)所收集來的信號強(qiáng)度與顯象管屏上相應(yīng)點(diǎn)亮度之間是一一對應(yīng)的。因此，試樣各點(diǎn)狀態(tài)不同，顯象管各點(diǎn)相應(yīng)的亮度也必不同，由此得到的象一定是試樣狀態(tài)的反映。放置在試樣斜上方的波譜儀和能譜儀是用來收集X射線，借以實(shí)現(xiàn)X射線微區(qū)成分分析的。值得強(qiáng)調(diào)的是，入射電子束在試樣表面上是逐點(diǎn)掃描的，象是逐點(diǎn)記錄的，因此試樣各點(diǎn)所激發(fā)出來的各種信號都可選錄出來，并可同時(shí)在相鄰的幾個(gè)顯象管上顯示出來，這給試樣綜合分析帶來極大的方便。
技術(shù)服務(wù)內(nèi)容
| 服務(wù)內(nèi)容 | 結(jié)果內(nèi)容 | 備注 |
| TEM透射電鏡 | 提供5-8張圖片/樣和圖片分析 | 含超薄切片和樣本處理。特殊組織定位另算 |
| SEM掃描電鏡 |
實(shí)驗(yàn)結(jié)果展示
客戶須知
電鏡標(biāo)本要求
1）透射電鏡需客戶提供1mm3 左右的組織塊，取材部位要求盡量精準(zhǔn)。
2）掃描電鏡，需客戶提供10*10*5mm大小的組織塊。
3）如為細(xì)胞，細(xì)胞數(shù)需≥106
實(shí)驗(yàn)周期
20個(gè)工作日內(nèi)（具體實(shí)驗(yàn)周期視實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方案而異）