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1、儀器工作原理

原子或離子可處于不連續(xù)的能量狀態(tài)，該狀態(tài)可以用光譜項來描述；當處于基態(tài)的原子或離子吸收了一定的外界能量時，其核外電子就從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，而處于激發(fā)態(tài)的原子或離子很不穩(wěn)定，經(jīng)由約秒便躍遷返回基態(tài)，并將激發(fā)所吸收的能量以光的形式放出，將這些光按一定的波長順序排列即為原子光譜；由于特定元素可產(chǎn)生一系列不同波長的光，通過識別待測元素的特征光譜存在與否即可進行定性分析，根據(jù)該波長光的強度進行定量分析。

激發(fā)臺中的電極與預先制備好的金屬樣本之間在激發(fā)過程中產(chǎn)生電火花。火花發(fā)出的光通過入射狹縫進入光室，通過光柵分光后，不同波長的光以不同的角度分開，照射到CMOS傳感器上。傳感器將光信號轉化成為電信號，并通過測量系統(tǒng)傳輸給計算機，經(jīng)處理后，得出分析結果。

2、主要技術參數(shù)

三、儀器技術特點

設備可快速的對金屬材料樣品進行元素測定。光學系統(tǒng)采用CMOS檢測器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素，它都能準確、可靠的分析。，針對不同材料、不同要求，具有性價比高的全譜直讀光譜儀，可滿足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號識別、材料研究和開發(fā)的應用。

1、性能*的光學系統(tǒng)

帕邢-龍格結構凹面光柵，全譜覆蓋，滿足客戶對全元素檢測的需求。

直射式光學技術及采用MgF材料制作的光學器件，保證紫外區(qū)域的最佳性能。

高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)，更低的暗電流，更好的檢出限，更高的穩(wěn)定性，更強的靈敏度，滿足N的分析要求。