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            X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀

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            • X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀

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            • 所在地 蘇州市

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            更新時間:2020-06-30 15:58:11瀏覽次數(shù):3615

            聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

            產(chǎn)品簡介

            Werth將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng),WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準(zhǔn)確測量,并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測量,同時可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。

            詳細(xì)介紹

            WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀介紹:

                德國Werth公司是將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準(zhǔn)確測量,并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測量,同時可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時,保證了高品質(zhì)的要求。Werth工業(yè)CT斷層掃描測量儀此機(jī)榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計(jì)金獎。

            WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀特點(diǎn):

            ◆  將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測量
            ◆  可選配第二個Z軸,配置其他傳感器(光學(xué)、探  針、光纖、激光等)
            ◆ Werth公司技術(shù)復(fù)合式傳感器技術(shù),進(jìn)一步保證 CT測量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
            ◆ 堅(jiān)固的花崗巖基座,保證機(jī)器具有高穩(wěn)定性
            ◆ 高精密機(jī)械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng),確保實(shí)現(xiàn)zui  高精度的測量
            ◆ 無論從設(shè)計(jì)還是結(jié)構(gòu),測量機(jī)*并超出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)
            ◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù),測量速度更快 
            ◆  Werth公司技術(shù)的X射線傳感器獨(dú)立校準(zhǔn)系統(tǒng)
            ◆  Werth公司技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù):
                    精密測量微小部件
                    掃描更大尺寸工件,提高分辨率
                    擴(kuò)展測量范圍
            ◆  測量軟件可快速3D重構(gòu),也可進(jìn)行2D測量
            ◆  測量工件內(nèi)部尺寸的同時,也可實(shí)現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析
            ◆  選用廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件 (德國國家計(jì)量院PTB長度標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證) ,界面友好,操作簡單
            ◆  可使用zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jìn)行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
            ◆  廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測量,*評估,逆向工程,質(zhì)量控制等


            Werth工業(yè)CT斷層掃描測量儀應(yīng)用領(lǐng)域:  模具行業(yè)、逆向工程、汽車行業(yè)、航空航天、精密機(jī)械加工、船舶等。

            WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀技術(shù)參數(shù):

            型    號

            TomoScope

            TomoCheck

            TomoScope

            HV Compact

            TomoScope HV

            zui大測量工件尺寸(直徑)

            90mm

            90mm

            350mm

            350mm

            zui大測量高度

            200mm

            200mm

            350mm

            500mm

            zui大允許誤差 (用CT傳感器)

            (4,5+L/75) µm

            (1,5+L/500) µm

            (4,5+L/75) µm

            (4,5+L/75) µm

            zui大允許誤差(E1:單軸精度)

            (2,5+L/120) µm

            (0,5+L/900)µm

            (2,5+L/120) µm

            (2,5+L/120) µm

                      (E2:平面精度)

            (2,9+L/100) µm

            (0,7+L/600) µm

            (2,9+L/100) µm

            (2,9+L/100) µm

                      (E3:空間精度)

            (4,5+L/75) µm

            (1,5+L/500) µm

            (4,5+L/75) µm

            (4,5+L/75) µm

            X射線源

            130kV(150,190kV可選)

            130kV

            225kV

            225kV(450kV可選)

            X射線探測器像素

            1024x1024

            1024x1024

            1024x1024

            2048x2048

            X射線探測器尺寸

            50x50mm

            50x50mm

            200x200mm

            400x400mm

            分辨率

            0.1µm

            0.1/0.01µm

            0.1µm

            0.1µm

            定位速度

            150mm/s

            60mm/s

            150mm/s

            150mm/s

            加速度

            300mm/s2

            250 mm/s2

            350 mm/s2

            350 mm/s2

            工作臺承重

            2kg

            10kg

            40kg

            40kg

            電源

            230V +/-10%

            3x400V/N/PE

            3x400V/N/PE

            3x400V/N/PE

            氣壓

            7-10bar

            7-10bar

            7-10bar

            7-10bar

            儀器自重

            3000kg

            6000kg

            8500kg

            11000kg

            1). 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 10360和VDI/VDE 2617,使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正
            2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg

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